QuickScan iX ECA
Die QuickScan iX ECA-Erfassungseinheit ist speziell für Oberflächenprüfungen während der Materialherstellung konzipiert. Das Design entspricht denselben zuverlässigen Industriestandards für Eingänge und Ausgänge für 24 V wie die QuickScan iX PA-Einheit. Pro Einheit können bis zu acht Sensoren angeschlossen werden. Für anspruchsvollere Konfigurationen bezüglich Sensoren oder Geschwindigkeit können mehrere Erfassungseinheiten kombiniert werden.
Leistungsstarke Wirbelstrom-Array-Lösung für die betriebsbegleitende Oberflächenprüfung
Die QuickScan iX ECA-Erfassungseinheit ist speziell für Oberflächenprüfungen während der Materialherstellung konzipiert. Das Design entspricht denselben zuverlässigen Industriestandards für Eingänge und Ausgänge für 24 V wie die QuickScan iX PA-Einheit. Pro Einheit können bis zu acht Sensoren angeschlossen werden. Für anspruchsvollere Konfigurationen bezüglich Sensoren oder Geschwindigkeit können mehrere Erfassungseinheiten kombiniert werden.
QuickScan iX ECA-Gerät
So konstruiert, um industriellen Anforderungen standzuhalten
Das QuickScan iX ECA-Gerät ist unsere Wirbelstromerfassungseinheit der neuesten Generation für industrielle Prüfsysteme. Die Erfassungseinheit erfüllt die Anforderungen der Schutzart IP55 und ist leicht in industrielle Umgebungen zu integrieren.
Automatische
Lift-off-
Kompensation
Bis zu
8
Eingänge pro Gerät
Erweiterbar für automatisiertes Hochgeschwindigkeits-Imaging
Pro Einheit können bis zu acht Sensoren angeschlossen werden. Für anspruchsvollere Konfigurationen mit mehr Sensoren oder höheren Geschwindigkeitsanforderungen können mehrere Erfassungseinheiten kombiniert werden.
Bis zu
40 kHZ
Erfassungsgeschwindigkeit
Von
50 kHz bis 2 MHz
Frequenzbereich
Technische Angaben
Der Multiplexmodus ermöglicht das zeitliche Multiplexing von bis zu zwei Frequenzen gleichzeitig.
Max. 8 Eingänge für herkömmliche Anschlüsse
Insgesamt 8 Eingänge für das Gerät, jeweils 32 Zeitintervalle für insgesamt 256 Zeitintervalle
Lagertemperatur: −20 °C bis 70 °C
8 digitale Ausgänge (programmierbar) 2 Weggeber-Eingänge (inkrementell, A- und B-Phase)
Anwendungen
Tube Inspection Systems
Seamless and welded tube inspection systems use ultrasonic phased array and X-ray fluorescence spectroscopy technologies for comprehensive inspection.
Bar Inspection Systems
Bar inspection systems use advanced technologies, such as ultrasonic phased array, eddy current array, and X-ray fluorescence spectroscopy, to inspect the full volume and surface of round or square bars and pipes.