La petite fenêtre dont est muni le détecteur à rayons X de votre analyseur XRF laisse passer les rayons X. Sans elle, l’analyseur ne pourrait pas fonctionner. Le matériau dont elle est faite influence grandement l’efficacité de votre analyseur. En effet, plus la fenêtre sera fine et légère, plus la quantité de rayons X qui la traversera sera importante. Et plus la quantité de rayons X qui la traversera sera importante, meilleure sera la sensibilité de votre analyseur XRF, car il pourra notamment mieux détecter des éléments légers comme le magnésium, l’aluminium et le silicium, qui présentent les niveaux de rayonnement les plus faibles.

Pendant longtemps, cette fenêtre était faite d’une pellicule en béryllium. Si le béryllium est très léger, il est toutefois difficile à fabriquer, fragile, fiable et toxique. Même des impacts relativement mineurs peuvent endommager la fenêtre qui, si elle se brise, doit être remplacée. La plupart des pellicules en béryllium ont une épaisseur de 8 microns ou plus.

L’analyseur XRF Vanta^™, modèle VRM, est maintenant équipé d’une fenêtre en graphène d’une épaisseur de 0,9 micron seulement, laquelle lui confère une meilleure sensibilité aux éléments légers que la fenêtre classique en béryllium.

Avantages du graphène

En raison de la grande robustesse du carbone dont est constitué le graphène, même si la fenêtre est très mince, elle demeure incroyablement résistante. Les fenêtres en graphène laissent passer davantage de rayons X, ce qui augmente la sensibilité de l’analyseur aux principaux éléments légers, comme le magnésium (Mg), l’aluminium (Al), le silicium (Si), et même le phosphore (P) et le souffre (S). De plus, contrairement au béryllium, le graphène n’est pas toxique.

Voici les avantages uniques des fenêtres en graphène :

• Détection accélérée du magnésium (Mg) dans les alliages d’aluminium (0,53 % de Mg détecté en 3 secondes avec le faisceau 2)
• Limites de détection inférieures pour l’aluminium (Al) dans les alliages de nickel
• Mesure plus rapide et plus précise des concentrations de silicium (Si) inférieures à 1000 ppm dans les aciers faiblement alliés
• Mesure du phosphore (P) et du soufre (S) dans les aciers faiblement alliés qui en contiennent moins de 0,035 %