Confronto dei metodi di ispezione dei materiali refrattari: XRF e titolazione chimica

Componenti costituite da materiali refrattari su un tavolo

Sihan Tan

Sihan Tan

19 novembre, 2024

Con materiali refrattari, come suggerisce il nome, ci si riferisce a materie prime usate per produrre componenti idonee per condizioni estremamente calde con temperature operative superiori a 1200 °C (2192 °F). Sono diffusamente impiegati nei processi caratterizzati da alte temperature in numerosi settori come: acciaierie, metallurgia non ferrosa, edilizia, chimica industriale, produzione energetica, protezione ambientale e industria aerospaziale.

I materiali refrattari sono in genere usati nei processi continui di pressofusione come: rivestimenti delle paniere, stopper rod, piastre scorrevoli, ugelli e altre componenti. In genere i materiali refrattari per questo tipo di applicazioni includono: mattoni in carburo di zirconio, mattoni in carburo di alluminio e mattoni in carburo di magnesio.

La determinazione della composizione chimica dei materiali refrattari è fondamentale per assicurare qualità, prestazioni e idoneità per delle specifiche applicazioni caratterizzate da alte temperature. Quando si ispezionano i materiali refrattari le entità oggetto di analisi includono:

  1. Materie prime basate su ossidi
  2. Prodotti finiti

In questo caso si confrontano due metodi di analisi elementare usati per ispezionare i materiali refrattari, riportando i requisiti di preparazione dei campioni, l'efficienza dell'ispezione e i risultati di analisi.

Confronto dei metodi di analisi elementare per l'ispezione di materiali refrattari

Un metodo di analisi elementare usato comunemente in laboratorio consiste nella titolazione acido-base. Tuttavia, usando questa analisi chimica per via umida in laboratorio, un tecnico può produrre al massimo i risultati di 2–3 campioni al giorno.

Attualmente nel settore sono applicati dei requisiti rigorosi per i normali processi di analisi e ispezione dei materiali ricevuti, pertanto il carico di lavoro dei controlli per le aziende che trattano i materiali refrattari risulta estremamente gravoso. Allo stesso tempo, l'efficienza dei classici metodi di titolazione risulta limitata a causa del dispendio in termini di tempo e manodopera.

Gli analizzatori a fluorescenza a raggi X portatili, conosciuti anche come pXRF, rappresentano un metodo efficiente e preciso per misurare il contenuto elementare del materiale refrattario. In tecnici possono ottenere dei risultati di ispezione in soli cinque minuti soddisfacendo i requisiti con un margine di errore compreso in ±10%.

Di seguito viene riportato uno schema riassuntivo dei due metodi:

Metodi di ispezione
Preparazione del campione
Efficienza di ispezione
Titolazione chimica
Polverizzare campioni di grandi dimensioni e ispezionarli mediante delle reazioni chimiche (metodo distruttivo)
Possibilità di ispezione di 2–3 campioni al giorno
pXRF
Usare i raggi X per analizzare un campione di ridotte dimensioni su ognuno dei sei lati e, in seguito, determinare il valore medio (metodo non distruttivo)
5 minuti per campione

Confronto dei requisiti di preparazione dei campioni e di efficienza di rilevamento tra i metodi pXRF e titolazione chimica.

Adesso è possibile analizzare i risultati. Un confronto della percentuale del contenuto di allumina (ossido di alluminio prodotto sinteticamente o Al2O3) rilevato nei prodotti finiti è riportato di seguito:

Un grafico con l'illustrazione del confronto dei risultati pXRF Vanta medi e di quelli della titolazione chimica per il rilevamento del contenuto di allumina.
Confronto dei risultati pXRF Vanta Core (media di analisi da 50 secondi) e dei risultati del metodo per titolazione.

In questo caso per l'analisi pXRF è staot usato un modello Vanta Core (V2CA). Dal grafico è possibile osservare che esiste una correlazione lineare tra la media dei risultati di ispezione pXRF e i risultati di laboratorio del metodo di titolazione chimica, confermando l'affidabilità dell'ispezione usando l'analizzatore pXRF. L'analizzatore pXRF può visualizzare i valori desiderati seguendo una semplice taratura.

Uno screenshot di un analizzatore pXRF vanta mostra la percentuale di contenuto di allumina nel materiale refrattario.
I risultati di analisi pXRF vanta mostrano la percentuale del contenuto di allumina (Al2O3) nel materiale refrattario.

La tecnologia XRF permette di acquisire velocemente risultati di analisi non distruttivi e precisi. Questo consente un significativo miglioramento dell'efficienza di ispezione per i materiali refrattari. Per apprezzare il funzionamento della nuova generazione di analizzatori XRF portatili Vanta Core, contatta il nostro team per pianificare una dimostrazione.

Sihan Tan

Sihan Tan

Ingegnere delle applicazioni per gli strumenti analitici

Sihan Tan si è laureata all'Università di Manchester (Gran Bretagna) e sta lavorando come ingegnere delle applicazioni per gli strumenti analitici in Evident. Nell'ambito del suo ruolo si è concentrata sullo sviluppo delle applicazioni e ha fornito supporto tecnico per gli analizzatori a fluorescenza a raggi X (XRF).