TFM および PCI を搭載したOmniScan ™ X4フェーズドアレイ探傷器
- HTHA を早期に確実に検出することはとても難しいので、検出率を最大化するために複数の探傷法を使用するのが一般的です。 伝搬時間回折(TOFD)、集束型フェーズドアレイ(PA)、トータルフォーカシングメソッド(TFM)を、デュアルリニアアレイ™ (DLA)プローブとともに使用すると、探傷に特に効果的であることが実証されています。
- OmniScan ™ X4 探傷器はこれらの手法をもれなくサポートしているほか、小さな欠陥や亀裂先端部が強調される革新的な位相コヒーレンスイメージング(PCI)にも対応しています。 OmniScan X4 シリーズでは、設定や解析ワークフローを容易にする内蔵ソフトウェアツールも各種ご用意しています。
- 一体型 DLA プローブ構成とスキャナー構成
- 高解像度 TFM 画像(最大 1024 × 1024 ピクセル)
- 設定から解析まで、TFM 検査工程を最適化するためのソフトウェアツール(AIM モデルによるスキャンプラン、自動 TCG、スパース発信、ソフトゲイン、パレットスライダー、ライブ TFM 包絡線、画像フィルター、ゲート、アラーム)
- 64 素子 TFM 開口幅および 128 素子拡張 TFM 開口幅(OmniScan X4 64:128 PR モデル)
- 位相コヒーレンスイメージングにより小さな欠陥や亀裂先端部を強調表示(すべてのOmniScan X4ユニット)
- 最大 8 つの TOFD およびフェーズドアレイグループを同時に取得することによる効率的なスクリーニング
- 最大 4 つの TFM および PCI グループを同時に取得して表示可能
- TFM と PCI とともに平面波イメージング(PWI)を利用可能(OmniScan X4 ユニットとリニアアレイプローブを使用)
プローブ
HTHA 用の高感度プローブ
高温水素浸食をより早く確実に検出

溶接部と熱影響部の斜角検査範囲を最大化
A38 および A28 デュアルリニアアレイ™ 斜角プローブ
- ピッチキャッチ構成の高感度 10 MHz デュアルアレイ
- 小さな素子間ピッチによる溶接部と熱影響部(HAZ)のクリアな TFM イメージングと広角検査範囲
- 特許取得済みの筐体によってアレイの位置が近づき、プローブの厚さ方向の検査範囲が拡張
- 専用のウエッジシリーズで、外径 4~48 インチ、 厚さ最大 95 mm(3.74 インチ)のパイプに対応
- A38 DLAの 64 素子アレイによって鮮明で深いフォーカシングが可能になり、OmniScan™ X4探傷器の能力を完全に引き出せる
- A28 DLA の 32 素子アレイはウエッジの設置面積が小さく、溶接部近くへのアクセスと音響結合が容易
母材の HTHA を確実に検出する高速スキャン
0 度の REX1 デュアルリニアアレイプローブ
- 10 MHz の 64 素子デュアルアレイ
- 最大 30 mm(1.18 インチ)のビーム幅範囲
- 外径 4 インチ(101.6 mm)のパイプの表面に適合する調整可能な安定化およびカーバイド摩耗保護システム
- 4 mmから 95 mm(0.16インチから3.74インチ)までの厚さをカバーする一体型ウェッジ
- エンコーダーまたはスキャナーと併用すると、鮮明な C スキャン画像を提供


複数の検査法を活用した確実な HTHA 検出
HTHA 用に最適化された A31 および A32 パルスエコープローブ
- O これらの 10MHz 64 素子リニアプローブは効率的な TFM および PWI 検査用に最適化され、高解像度を発揮
- A31 プローブの小さな素子間ピッチは溶接部と HAZ の広角検査範囲に対応
- A32 プローブの合計開口幅の広さは高解像度と深いフォーカシングに対応
仕様
製品番号/詳細 | アイテムナンバー | 周波数(MHz) | 素子構成 | 素子数 | ピッチ(mm) | 開口幅(mm) | エレベーション(mm) | ルーフアングル(°) | 厚さ測定範囲(mm) |
10DL32-9.6X5-A28 (FD25 ウエッジ) |
Q3301742 | 10 | デュアル 32 | 64 | 0.3 | 9.6 | 5 | ウエッジにより設定 | 4–45 |
10DL32-9.6X5-A28 (FD60 ウエッジ) |
Q3301742 | 10 | デュアル 32 | 64 | 0.3 | 9.6 | 5 | ウエッジにより設定 | 45–95 |
10DL64-19.2X5-A38 (FD25 ウエッジ) |
Q3302412 | 10 | デュアル 64 | 128 | 0.3 | 19.2 | 5 | ウエッジにより設定 | 4–45 |
10DL64-19.2X5-A38 (FD60 ウエッジ) |
Q3302412 | 10 | デュアル 64 | 128 | 0.3 | 19.2 | 5 | ウエッジにより設定 | 45–95 |
10DL64-32X5-1DEG-REX1-PR | Q3301737 | 10 | デュアル 64 | 128 | 0.5 | 32 | 5 | 1 | 30–95 |
10DL64-32X5-5DEG-REX1-PR | Q3301733 | 10 | デュアル 64 | 128 | 0.5 | 32 | 5 | 5 | 4–30 |
10L64-19.84X10-A31 | Q3301607 | 10 | リニア | 64 | 0.31 | 19.84 | 10 | N/A | 3–90 |
10L64-32X10-A32 | Q3300429 | 10 | リニア | 64 | 0.5 | 32 | 10 | N/A | 8–110 |
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A38 および A28 プローブ用ウエッジ
A38 および A28 DLA プローブ専用の斜角ウエッジシリーズは、溶接部内部および熱影響部の検査に最適化されています。 これらのウエッジの角度は、鉄鋼において公称入射角 65 度で縦波を生成するように設定されています。 101.6 mm~1220 mm(4 インチ~48 インチ)の AOD 直径ごとに計算されたルーフアングルを備えています。 (101.6 mm~1220 mm)。
SA38 および SA28 ウエッジは、2 種類の焦点深度(FD)で利用でき、4 mm~95 mm(0.16インチ~3.74インチ)の幅広い厚さをカバーします。 これらのウエッジによって、A38 プローブの拡張されたフォーカシング機能を最大限に活用できます。
カタログ・ビデオ・その他資料
アプリケーションノート
Advanced Phased Array Inspection for Early Detection of HTHA
/ja/learn/white-papers/advanced-phased-array-inspection-early-detection-htha
TFMによりAcoustic Influence Map(AIM)
/ja/learn/white-papers/tfm-acoustic-influence-map
インサイト
位相コヒーレンスイメージング(PCI)の有益な用途
/ja/insights/advantageous-applications-for-phase-coherence-imaging-pci
NDT検査員にとってのOmniScan X3探傷器が持つTFMおよびその他の主な特長:カスタマーレビュー
/ja/insights/tfm-and-other-major-advantages-of-the-omniscan-x3-flaw-detector-for-ndt-inspectors-customer-review
あらゆる欠陥を検出 — 信頼性の高いTFMイメージング
/ja/insights/all-your-flaws-revealed-tfm-imaging-that-you-can-trust
新しいOmniScan X3探傷器のFMC/TFM機能における3大特長
/ja/insights/top-3-fmc-tfm-enhancements-of-the-new-omniscan-x3-flaw-detector-explained
OmniScan X3探傷器への切り替えをお勧めする5つの理由
/ja/insights/5-reasons-to-make-the-switch-to-the-omniscan-x3-flaw-detector
ビデオ
OmniScan X3 64を使用したHTHA検出におけるTFMとPCIの比較
Using the OmniScan® X3 Flaw Detector for HTHA and Other Micro-Fissuring Applications
カタログ・マニュアル
カタログ
https://evidentscientific.com/ja/downloads/brochures?product=Htha+Probes&type=brochures
マニュアル
https://evidentscientific.com/ja/downloads/manuals?product=Htha+Probes
インフォグラフィック
https://evidentscientific.com/ja/downloads/brochures?product=Htha+Probes&type=Infographics