72DL PLUS Ultrasonic Thickness Gauge

72DL PLUS™超音波厚さ計は、高速で精密な厚さ測定が可能な、持ち運びしやすく使いやすい装置です。高速スキャン機能、先進のアルゴリズム、当社史上最少の厚さ測定能力を備え、製造用途で最も困難な極薄層の厚さ測定を確実に実施できます。

超音波厚さ計72DL PLUS™ 高速、高周波数、高精密測定

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72DL PLUS™超音波厚さ計は、高速で精密な厚さ測定が可能な、持ち運びしやすく使いやすい装置です。高速スキャン機能、先進のアルゴリズム、当社史上最少の厚さ測定能力を備え、製造用途で最も困難な極薄層の厚さ測定を確実に実施できます。

72DL PLUS厚さ計には、標準周波数モデルと高周波数モデルがあります。高周波数モデルでは、極薄材料(多層の塗装、プラスチック、金属、コーティングなど)を測定でき、多層測定機能で同時に6層までの厚さを表示可能です。どの72DL PLUSモデルにも、高速で精密な厚さ測定を行うための機能が搭載されています。

  • デジタルフィルターによって優れたSN比が実現し、ノイズの多い材料の厚さ(グラスファイバーなど)を正確に測定
  • 使いやすくさまざまな角度から見える高解像度タッチスクリーン
  • PCインターフェースアプリケーションによって、ワークフロー、検査管理、アラート、データ解析が統合され、継続的な製品品質の向上が可能

72DL PLUSの機能一覧

厚さ検査プロセスを確実にコントロール

スマートツールを搭載して操作が楽になった超音波精密厚さ計では、検査の設定、実行、解析がより速く確実になります。

見やすく大きな画面の直感的なユーザーインターフェース

産業環境向けに作られた超音波精密厚さ計

多層のコーティング、塗装、プラスチックなど材料の厚さを6層まで測定可能

Paint thickness gauge

多層測定機能では、6層までの多層の厚さを測定できます。各層の測定設定(材料、音速、対象厚さ範囲、アラームしきい値など)は、構成ワークフローとタッチスクリーンコントロールから簡単にアクセスできます。

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ワークフロー

合理的な厚さデータ収集とデータ処理

72DL PLUS™の全モデルに、2 GBまでデータ保存可能な内蔵データログ機能とオンボードファイル管理機能が搭載されています。

定期的な厚さ測定のアプリケーションセットアップが簡単に

単純または複雑な部品に対する定期的なアプリケーションの場合、設定を[My Applications]メニューに保存して呼び出せば、機器の設定プロセスが楽になります。検査のたびに手動で選択や設定の調整をする操作が減るので、検査効率と測定品質の信頼性が増します。

[My Applications]メニューでは、厚さ計本体からカスタムアプリケーションを簡単に作成できます。

  • 単一層、多層、バリア、減肉率を 事前に設定した構成
  • 検査設定の選択から、探触子、材料、アラームとアラーム条件、測定モード、および測定対象マップの設定まで、プロセスの各段階を通してガイド付きのメニュー で操作できます。
  • アプリケーションの再呼び出しは簡単:厚さ計の電源を入れるだけで開始画面に[My Applications]メニューを表示

柔軟性を高めるために、PCインターフェースアプリケーションを使用してアプリケーションを作成し、製造現場や施設全体にある別の厚さ計にファイルを送ることもできます。

Olympus ultrasonic thickness gauge user interface

標準化された検査ガイダンスで作業への取りかかりがスムーズに

対話型カスタムテンプレートを使用すれば、厚さ計の標準化された検査ガイダンスに従って、ストレスなく迅速な作業が可能です。管理者は進行中の厚さ検査の品質と進捗をインテリジェントにモニタリングする機能によって、作業が正しく行われていることに確信を持ちやすくなります。

多用途に対応する測定レイアウトで厚さの変化を追跡して視覚化

どの厚さ計にも5種類の測定レイアウトが組み込まれているので、対象材料の厚さの変化を正確に追跡し、視覚化できます。

A-Scan: Ultrasonic a-scan

A-スキャン

B-Scan: Ultrasonic b-scan

B-スキャン

Ultrasonic a-scan b-scan

A / B-スキャン

Trend: Trend display for ultrasonic thickness measurements

傾向

Zoom: Zoom display for ultrasonic thickness measurements

ズーム

検査データの管理と解析により製品品質を向上

さらに多くの検査データを収集して製品品質の管理を高めましょう。PCインターフェースアプリケーションには、データの作成、管理、共有、および解析を行うツールが用意されていて、製造現場でのデータに基づく判断に自信が持てます。厚さ傾向のモニタリング、品質の問題の識別、レポート作成を行うことで、一貫性のある製品品質の維持とプロセスの向上に役立ちます。

アプリケーション

多用途に対応する高速精密厚さ測定

72DL PLUS™厚さ計は、塗装厚さ計、コーティング厚さ計、材料厚さ計のどの用途にも使用できます。 用途に関係なく、信頼性の高いラボ品質の測定を高速で提供できるため、製造現場の生産性とスループットが最大化します。

自動車

自動車など乗り物の塗装厚さ計

Paint thickness gauge for cars

航空宇宙

Precision thickness measurements for turbine blade inspections
Coating and material thickness gauge for aerospace

製造業

  • 薄膜・小径チューブの測定
    • プラスチックおよび金属チューブ
    • 医療用チューブおよびカテーテルの壁厚さ
  • 製造用のコーティング厚さ計
    • 単一層または多層のコーティング材厚さ測定
    • 防水加工および反射防止コーティング
    • ドライフィルム厚さ
    • 厚膜および薄膜の厚さ測定
  • 製造用のプラスチック厚さ計
    • ボトル、トレイ、タンクの多層プラスチック厚さ測定
    • 多層のプラスチック食品容器
  • 製造用の材料厚さ計
    • 多層材料測定
    • シリコンウエハーの厚さ
    • 金属シートおよびプレートの厚さ
    • 金箔の厚さ
    • 粘着テープの厚さ
    • ポリプロピレンパッケージの厚さ
Mil thickness gauge for manufacturing

ゲージの選択

ニーズに合った厚さ計モデルを選択

用途に応じて、多層測定機能を備えた標準周波数モデルと高周波数モデルから選択できます。

標準周波数モデル:周波数範囲0.2~30 MHzの一振動子型探触子を使用して、高速で信頼性の高い厚さ測定が可能(A-スキャンの場合、測定速度2 kHz、表示更新速度60 Hz)

高周波数モデル:標準周波数モデルのすべての機能に加えて、最大125 MHzの探触子周波数で極薄材料の測定に対応

=多層測定機能:同時に6層までの多層測定を表示

対応機能またはモード
72DL PLUS
標準周波数
72DL PLUS
高周波数
177.8 mm(7インチ)タッチスクリーンWVGAディスプレイ
X
X
A-スキャンの60 Hzの表示更新
X
X
最大2 kHzの測定速度
X
X
フリーズされた波形に対する校正、ゲイン、およびブランクのコントロール
X
X
= 多層測定
X
X
0.2~30 MHzの周波数範囲
X

極薄材料に対する最大125 MHzの測定範囲

X

探触子を選択

72DL PLUS厚さ計は、当社の一振動子型超音波探触子に対応し、最大周波数は125 MHzです。

仕様

72DL PLUS™仕様

標準周波数
高周波数
外形寸法 (W × H × D)
238.76 × 172.72 × 86.36 mm(9.4 × 6.8 × 3.4インチ)
質量
2.08 kg(4.6ポンド)
電源
AC/DCアダプター(24 V)またはリチウムイオンバッテリー(73 Wh)
バッテリー稼働時間
8時間
バッテリー保管温度
-20°C~40°C(-4°F~104°F)
温度(使用時)
-10°C~50°C(14°F~122°F)
ディスプレイ
177.8 mm(7インチ) WVGA(800 × 480) PCAPタッチ、画像更新速度60 Hz

分解能

Rowspan=3

低分解能:0.1 mm(0.01インチ)
低分解能:25 μm(1ミル=0.001インチ)
標準:0.01 mm(0.001インチ)
標準:2.5 μm(0.1ミル=0.0001インチ)
高分解能:0.001 mm(0.0001インチ)
高分解能:0.25 μm(0.01ミル=0.00001インチ)
厚さ測定範囲(プローブ周波数、プローブタイプ、材料により異なる)
鉄鋼:0.20 mm~635 mm(0.008~25インチ)
プラスチック:0.0127 mm~25.4 mm(0.0005~1インチ)
多層測定
最大6層
測定速度
1~3層:最大2 kHz
1~3層:最大1 kHz
4~6層:最大1 kHz
4~6層:最大500 Hz
校正
単一点または2点自動校正、ゼロ補正/音速手動調整、フリーズした波形からの単一点校正
ディスプレイレイアウト
A-スキャン、B-スキャン、A/B-スキャン、傾向、ズーム、テンプレート、A-スキャン/テンプレート
容量
2 GB( 約400,000件の厚さ測定値、20,000件の波形)
周波数範囲
0.2~30 MHz(-3 dB)
20~125 MHz(-3 dB)
ゲイン
自動または手動(最大100 dB)
自動または手動(最大80 dB)
IP等級
IP65準拠:全方向からの噴射に対する防塵防滴性能
爆発性雰囲気
MIL-STD-810F, Method 511.4, Procedure I
耐衝撃性
MIL-STD-810F, Method 516.5, Procedure I, 各軸で6サイクル , 15 g, 11 ms(半正弦)
耐振動性
MIL-STD-810F, Method 514.5, Procedure I, Annex C, Figure 6,一般暴露:各軸で1時間

カタログ・その他資料

アプリケーションノート

インサイト

カタログ・マニュアル