TFM 및 PCI 적용 OmniScan™ X4 위상 배열 결함 감지기
작은 HTHA 균열 감지 및 정의
- HTHA를 조기에 안정적으로 감지하는 일은 매우 어려운 작업이기 때문에 감지 가능성을 극대화하기 위해 여러 가지 검사 방법을 함께 사용하는 경우가 많습니다. 특히 Dual Linear Array™(DLA)를 사용하는 초점 위상 배열(Phased Array, PA) 및 TFM(Total Focusing Method)과 함께 회절파 시간 측정(Time-of-flight diffraction, TOFD)을 사용하는 것이 이 응용 분야에서 특히 효과적인 검사 기법으로 입증되었습니다.
- OmniScan™ X4 결함 감지기는 미세 결함 및 팁 균열 감지를 향상시키는 혁신적인 PCI(Phase Coherence Imaging)뿐만 아니라 관련 방법들을 모두 지원합니다. 또한 OmniScan X4 기기는 설정 및 분석 워크플로를 용이하게 하는 다양한 온보드 소프트웨어 도구를 제공합니다.
- 통합형 DLA 프로브 구성 및 스캐너 구성
- 고해상도 TFM 이미지(최대 1024 × 1024포인트)
- 설정부터 분석까지 TFM 검사 프로세스를 최적화하는 소프트웨어 도구(AIM 모델을 사용하는 스캔 플랜, 자동 TCG, 스파스 파이어링(sparse firing), 소프트 게인 및 팰릿 슬라이더, 라이브 TFM 엔벨로프 및 이미지 필터, 게이트 및 알람)
- 64요소 및 TFM 조리개 그리고 128요소 확장형 TFM 조리개(OmniScan X4 64:128PR 모델)
- 미세 결함 및 팁 균열 감지를 향상하는 PCI(모든 OmniScan X4 장치)
- 효율적인 스크리닝을 위해 최대 8개의 TOFD 및 위상 배열 그룹을 동시에 획득
- 한 번에 4개의 TFM 및 PCI 그룹 획득 및 표시
- TFM 및 PCI를 사용한 PWI(Plane Wave Imaging) 사용 가능(선형 배열 프로브와 함께 OmniScan X4 장치 사용)
프로브
HTHA용 고감도 프로브
고온수소침식을 조기에 안정적으로 감지
용접부 및 열 영향부에 대한 앵글 빔 적용 범위 극대화
A38 및 A28 Dual Linear Array™ 앵글 빔 프로브
- 피치-캐치(pitch-catch) 구성의 고감도 10MHz 이중 배열
- 작은 요소 피치가 용접부 및 열 영향부(HAZ)의 선명한 TFM 이미징 및 광각 적용을 가능하게 함
- 특허받은 피봇팅 하우징 기술로 배열을 더 가까이 위치시켜 프로브의 두께 통과 적용 범위가 확장됨
- 4~48인치 OD의 파이프 직경과 최대 95mm(3.74인치)의 두께를 지원하는 전용 웨지 시리즈
- A38 DLA의 64요소 배열이 더 날카롭고 깊은 초점 조절을 가능하게 하므로 OmniScan™ X4 결함 감지기의 잠재력을 모두 활용 가능
- A28 DLA의 32요소 배열은 작은 웨지 풋프린트를 제공하므로 용접부에 쉽게 액세스하고 커플링 가능
상위 재료를 빠르게 스캔하여 안정적인 HTHA 감지
0도 REX1 이중 선형 배열 프로브
- 10MHz의 이중 64요소 배열
- 최대 30mm(1.18인치)의 빔 너비 지원
- 4인치(101.6mm) OD만큼 작은 파이프 표면에 맞는 조정 가능한 안정화 및 카바이드 마모 보호 시스템
- 4mm~95mm(0.16~3.74인치)의 두께를 지원하는 통합형 웨지
- 인코더 또는 스캐너와 사용시 선명한 C 스캔 이미지 제공
안정적인 HTHA 감지를 위해 다양한 검사 방법 활용
HTHA에 최적화된 A31 및 A32 펄스-에코 프로브
- 효율적인 TFM 및 PWI 검사를 위해 최적화되어 높은 선명도를 제공하는 10MHz 64요소 선형 프로브
- A31 프로브의 소형 요소 피치로 용접부 및 HAZ의 광각 적용 가능
- A32 프로브의 전체 조리개가 넓으므로 미세한 해상도와 깊은 초점 구현 가능
사양
| Part Number/Description | Item Number | Frequency (MHz) | Element Configuration | No. of Elements | Pitch (mm) | Active Aperture (mm) | Elevation (mm) | Roof Angle (deg) | Thickness Range (mm) |
| 10DL32-9.6X5-A28 (FD25 wedge) |
Q3301742 | 10 | Dual 32 | 64 | 0.3 | 9.6 | 5 | Set by wedge | 4–45 |
| 10DL32-9.6X5-A28 (FD60 wedge) |
Q3301742 | 10 | Dual 32 | 64 | 0.3 | 9.6 | 5 | Set by wedge | 45–95 |
| 10DL64-19.2X5-A38 (FD25 wedge) |
Q3302412 | 10 | Dual 64 | 128 | 0.3 | 19.2 | 5 | Set by wedge | 4–45 |
| 10DL64-19.2X5-A38 (FD60 wedge) |
Q3302412 | 10 | Dual 64 | 128 | 0.3 | 19.2 | 5 | Set by wedge | 45–95 |
| 10DL64-32X5-1DEG-REX1-PR | Q3301737 | 10 | Dual 64 | 128 | 0.5 | 32 | 5 | 1 | 30–95 |
| 10DL64-32X5-5DEG-REX1-PR | Q3301733 | 10 | Dual 64 | 128 | 0.5 | 32 | 5 | 5 | 4–30 |
| 10L64-19.84X10-A31 | Q3301607 | 10 | Linear | 64 | 0.31 | 19.84 | 10 | N/A | 3–90 |
| 10L64-32X10-A32 | Q3300429 | 10 | Linear | 64 | 0.5 | 32 | 10 | N/A | 8–110 |
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A38 및 A28 프로브용 웨지
A38 및 A28 DLA 프로브의 전용 앵글 빔 웨지 시리즈는 용접 볼륨 및 열 영향부 검사를 위해 최적화되었습니다. 이러한 웨지의 각도는 강철의 경우 65도 공칭 입사각에서 L 웨이브를 생성하도록 설정됩니다. 이 웨지들은 4~48인치(101.6mm~1220mm)의 각 AOD 직경에 대해 계산된 루프 각도를 사용합니다.
SA38 및 SA28 웨지는 두 가지 초점 깊이(FD)로 제공되므로 4mm~95mm(0.16~3.74인치)의 광범위한 두께를 지원할 수 있습니다. 이러한 웨지를 사용하여 A38 프로브의 확장된 초점 조정 기능을 모두 활용할 수 있습니다.
자원
어플리케이션 노트
Advanced Phased Array Inspection for Early Detection of HTHA
/ko/learn/white-papers/advanced-phased-array-inspection-early-detection-htha
TFM 음향 영향도
/ko/learn/white-papers/tfm-acoustic-influence-map
인사이트
위상 일관성 이미징(PCI)으로 도움을 얻을 수 있는 응용 분야
/ko/insights/advantageous-applications-for-phase-coherence-imaging-pci
NDT 검사자를 위한 OmniScan X3 결함 검출기의 TFM 및 기타 주요 장점—고객 이용 후기
/ko/insights/tfm-and-other-major-advantages-of-the-omniscan-x3-flaw-detector-for-ndt-inspectors-customer-review
All Your Flaws Revealed—TFM Imaging You Can Trust
/ko/insights/all-your-flaws-revealed-tfm-imaging-that-you-can-trust
Top 3 FMC/TFM Enhancements of the New OmniScan X3 Flaw Detector Explained
/ko/insights/top-3-fmc-tfm-enhancements-of-the-new-omniscan-x3-flaw-detector-explained
5 Reasons to Make the Switch to the OmniScan X3 Flaw Detector
/ko/insights/5-reasons-to-make-the-switch-to-the-omniscan-x3-flaw-detector
비디오
OmniScan X3 64로 HTHA에서 TFM과 PCI 비교
Using the OmniScan® X3 Flaw Detector for HTHA and Other Micro-Fissuring Applications
제품 리소스
브로셔
https://evidentscientific.com/ko/downloads/brochures?product=Htha+Probes
매뉴얼
https://evidentscientific.com/ko/downloads/manuals?product=Htha+Probes
인포그래픽
https://evidentscientific.com/ko/downloads/brochures?product=Htha+Probes&type=Infographics