QuickScan iX ECA
QuickScan iX ECA 획득 기기는 재료 생산 환경에서 표면 검사를 위해 특별히 설계되었습니다. 이 기기의 설계는 현장에서 입증된 QuickScan iX PA 기기와 동일하게 신뢰할 수 있는 24V I/O 산업 표준을 충족합니다. 기기당 최대 8개의 프로브를 연결할 수 있습니다. 프로브 또는 속도 측면에서 더 까다로운 구성을 위해 여러 획득 기기를 결합할 수 있습니다.
공정 중 표면 검사를 위한 강력한 와전류 배열 솔루션
QuickScan iX ECA 획득 기기는 재료 생산 환경에서 표면 검사를 위해 특별히 설계되었습니다. 이 기기의 설계는 현장에서 입증된 QuickScan iX PA 기기와 동일하게 신뢰할 수 있는 24V I/O 산업 표준을 충족합니다. 기기당 최대 8개의 프로브를 연결할 수 있습니다. 프로브 또는 속도 측면에서 더 까다로운 구성을 위해 여러 획득 기기를 결합할 수 있습니다.
QuickScan iX ECA 기기
다양한 산업 요구 충족
QuickScan iX ECA 기기는 산업 검사 시스템을 위한 최신 세대의 와전류 획득 기기입니다. 이 획득 기기는 IP55 표준을 충족하며, 산업 환경에 쉽게 통합됩니다.
자동 센서 측정 거리 보상
기기당
최대
8건의 입력
고속 검사를 위한 확장성
기기당 최대 8개의 프로브를 연결할 수 있습니다. 더 많은 프로브 또는 더 빠른 속도가 필요한 경우 까다로운 구성을 충족하기 위해 여러 획득 기기를 결합할 수 있습니다.
최대
40kHZ
획득 속도
50kHz부터
2MHz까지의
주파수 범위
사양
최대 두 개의 동시 주파수의 시간 멀티플렉싱을 지원하는 멀티플렉싱 모드
레거시 커넥터를 위한 최대 8건의 입력
기기용 총 8건의 입력, 각각 32개의 타임 슬롯이 있으므로 총 256개의 타임 슬롯이 존재
보관 온도 −20°C~70°C(−4°F~158°F)
8개의 디지털 입력(프로그래밍 가능)
8개의 디지털 출력(프로그래밍 가능) 2개의 인코더 입력(증분, A 및 B 위상)
어플리케이션
Tube Inspection Systems
Seamless and welded tube inspection systems use ultrasonic phased array and X-ray fluorescence spectroscopy technologies for comprehensive inspection.
Bar Inspection Systems
Bar inspection systems use advanced technologies, such as ultrasonic phased array, eddy current array, and X-ray fluorescence spectroscopy, to inspect the full volume and surface of round or square bars and pipes.