在学习X射线荧光（XRF）知识时，您可能会遇到许多首字母缩略词。您可以在这篇快速参考指南中找到那些您可能在我们网站上看到或在工作中听到的缩略词的含义。

XRF

XRF = X射线荧光。这是一种测量材料元素组成成分的快速、无损方法。点击此处了解有关XRF工作原理的更详细信息。

类似的缩略词还包括：

• EDXRF = 能量色散X射线荧光。这是一种用于手持式XRF设备的快速、高性价比的XRF技术。
• WDXRF = 波长色散X射线荧光。这是一种比EDXRF更昂贵的XRF实验室技术。
• HHXRF = 手持式XRF
• pXRF = 便携式XRF

探测器

手持式XRF分析仪使用两种不同类型的探测器：

• PIN = 硅条带二极管探测器。与SDD相比，这是一种更便宜、速度更慢的旧式技术。
• SDD = 硅漂移探测器。这是一种较新的技术，每秒可比PIN多计数10倍的X射线。

点击此处了解如何确定哪种探测器类型更适合您。

元素

LE = 轻元素。轻元素的X射线能量较弱，难以到达XRF分析仪的探测器。

哪种元素算作轻元素应视具体情况而定。我们经常将手持式XRF分析仪可以检测的下列元素称为轻元素：

这些轻元素只能使用装配了SDD探测器的分析仪测量。

在其他情况下，轻元素（LE）指的是元素周期表上原子序数较低的元素，用手持式XRF分析仪无法对它们进行测量。这些元素包括钠（Na）、碳（C）、氢（H）和氧（O）。

氢（H）到钠（Na）：这些显示为蓝色的LE（轻元素）太轻，无法用手持式XRF分析仪测量。镁（Mg）到钪（Sc）：这些显示为黄色的元素太轻，无法使用装有PIN探测器的分析仪进行测量。要分析这些元素，需要使用装有SDD探测器的手持式XRF分析仪。

校准方法

FP = 基本参数法。这是在XRF分析中使用的一种计算/校准方法，这种方法考虑到了基于原子基本物理特性的元素间效应。当样品质地非常密实时（如大多数金属），基本参数法（FP）是有助于获得正确答案的重要工具。

CN = 康普顿归一化。这是一种用于密度较低样品的更简单的计算/校准方法。

材料成分辨别

PMI = 材料可靠性鉴别。当设备和部件（如管道、阀门、焊缝和压力容器）中的某些特定金属牌号特别重要时，需要进行材料可靠性鉴别。材料可靠性鉴别涉及对高度具体的材料化学成分进行分析，以快速、准确地识别合金牌号。点击此处了解更多有关使用手持式XRF分析仪进行材料可靠性鉴别（PMI）的信息。

分析

LOD = 检出限。LOD（检出限）是我们可以检测到的给定元素的最低含量水平。在这些非常低的水平上，可能很难量化或估算元素的含量。

LOQ = 定量限。LOQ（定量限）大约比LOD（检出限）高3倍，您可以对定量限的数值结果更有信心。

Vanta分析仪型号

我们的Vanta XRF分析仪型号使用含有3个字母的独一无二的首字母缩略词对产品进行描述，不同型号可以满足客户的不同应用和分析需求。

含3个字母的首字母缩略词代表3个重要的组成部分：Vanta、所属系列和X射线管类型。示例：VMR、VCR、VCA和VLW。在第一个示例中，V = Vanta，M = M系列，R = 铑阳极X射线管。

Vanta系列选项和射线管类型的完整列表如下：

Vanta系列

M、C、L：我们使用罗马数字表示成本/性能水平。罗马数字越高，性能就越好。M系列是我们性能最佳的分析仪，其次是C系列，然后是L系列。

阳极X射线管类型

R =（Rh）铑阳极X射线管。可以出色地测量轻元素。尤其是可以迅速测量镁（Mg）元素。镁是各种铝（Al）合金牌号中的一种关键元素，因此铑阳极X射线管是大多数合金应用的上佳选择。

W =（W）钨阳极X射线管。使用钨（W）或类似的重元素X射线管非常适合检测高能元素，如：在有害物质限制指令（RoHS）合规应用中经常要探测的镉。

A=（Ag）银阳极X射线管。这是一种全能型射线管。虽然银阳极X射线管探测镁的性能不如铑出色，探测镉的性能不如钨优秀，但却不失为一种可以节省开支的折衷选择。

我们希望以上列表能对您有所帮助。您可以将此页加为书签，以便日后参考。如果您希望了解其他XRF缩略词，请告诉我们!