QuickScan iX ECA
QuickScan iX ECA采集仪器专为在材料生产环境中进行表面检测而设计。与经过现场验证的QuickScan iX PA仪器一样，QuickScan iX ECA仪器的设计也符合可靠的24 V I/O工业标准。每个单元最多可连接8个探头。可将多个采集单元组合在一起，构建对探头或速度要求更严格的配置。
用于生产线上产品表面检测的性能强大的涡流阵列解决放案
QuickScan iX ECA采集仪器专为在材料生产环境中进行表面检测而设计。与经过现场验证的QuickScan iX PA仪器一样，QuickScan iX ECA仪器的设计也符合可靠的24 V I/O工业标准。每个单元最多可连接8个探头。可将多个采集单元组合在一起，构建对探头或速度要求更严格的配置。
QuickScan iX ECA仪器
为满足工业要求而打造
QuickScan iX ECA仪器是我们用于工业检测系统的新一代涡流采集单元。这款采集单元符合IP55评级标准，可以方便地集成到工业环境中。
自动提离补偿
每台仪器有多达
8
个输入
可扩展，以满足高速检测的需求
每个单元最多可连接8个探头。对于要求更高的配置，如要求更多探头或更高速度的配置，可将多个采集单元组合在一起。
高达
40 kHZ
的采集速率
频率范围从
50 kHz至2 MHz
技术规格
多路复用模式最多可同时对两个频率进行时间多路复用。
传统连接器最多有8个输入
仪器共有8个输入，每个输入有32个时隙，总共有256个时隙
存储温度： -20°C ～ 70°C
8个数字输出（可编程），2个编码器输入（增量、A和B相）
应用
Tube Inspection Systems
Seamless and welded tube inspection systems use ultrasonic phased array and X-ray fluorescence spectroscopy technologies for comprehensive inspection.
Bar Inspection Systems
Bar inspection systems use advanced technologies, such as ultrasonic phased array, eddy current array, and X-ray fluorescence spectroscopy, to inspect the full volume and surface of round or square bars and pipes.