TomoView Software
TomoView是一个基于PC机的软件，用于数据采集和超声信号的显示。
TomoView Software Thickness and Flaw Inspection Solutions
超声采集和分析软件
TomoView是一个基于PC机的软件，用于数据采集和超声信号的显示。
基于PC机的TomoView软件用于检测程序的设计、数据的采集，以及超声信号的可视化。其超声参数配置灵活，可显示不同类型的视图，适用于工业研究领域的各种应用。
TomoView软件与我们的几款传统相控阵（PA）或常规超声（UT）仪器配套使用，可进行超声检测数据采集，可让您灵活地选择适合自己应用的配置。
受支持的传统采集单元包括：
- OmniScan MX2 PA和UT探伤仪
- OmniScan MX PA和UT探伤仪
- TomoScan FOCUS LT PA设备
- OmniScan MX2 PA UT检测系统
- OmniScan MX PA管道检测系统
TomoView软件可与Windows XP、Windows Vista、Windows 7、Windows 10和Windows 11兼容*，可在标准笔记本电脑和高端台式工作站上高效运行，并可处理高达2 GB的大容量数据文件。{*Windows 10和Windows 11不支持NDT Remote Control（NDT远程控制）和NDT Data Access（NDT数据访问）数据库。
超声采集和分析的多技术管理
TomoView软件具有同时利用多种技术的高级性能，可以进行常规UT、相控阵（脉冲回波、一发一收或穿透）及衍射时差（TOFD）采集。使用TomoView软件进行超声检测应用时，您可以按照自己的方式构建您的应用配置。
设计与数据采集
强大的设计和数据采集软件
灵活的相控阵配置
TomoView高级计算器是TomoView软件包中的一个必不可少的强大组件。这个计算器可利用预先编程的楔块、探头及材料数据库，为1-D线性阵列、1-D环形阵列及2-D矩形阵列探头，轻松、精确地编制角度声束和聚焦点。
高级计算器可用于为平面和圆形几何体编制扇形、线性和深度扫查聚焦法则，可支持动态深度聚焦（DDF），还可用于生成与OmniScan兼容的聚焦法则文件（.law）。
此外，所获得声束和角度声束的图像显示为您提供了一个重要的验证工具。“声场模拟”模块是一个可选项，可提供2D或3D视图中空间散射场的模拟。
TomoScan FOCUS LT释放了TomoView软件的潜能
与FOCUS LT相控阵采集设备配套使用，TomoView软件会变得更强大。软件性能如下：
使用FOCUS LT 64:128和64:64模块，每个聚焦法则可以最多包含64个晶片，可为2-D矩阵探头和2-D双晶矩阵探头提供更好的缺陷定义性能、材料穿透力和灵活适用性。
- 高级R-O配置，具有使用不同晶片配置发射脉冲和接收信号的能力。
- 高PRF（脉冲重复频率），适用于需要快速检测的应用。
- DDF（动态深度聚焦），可大幅提高分辨率，同时保持优化的检测速度。
- 最多可使用5个闸门（一个同步闸门，4个检测闸门）。
- 使用TomoView可最多并行管理3个FOCUS LT设备，因此可最多提高3倍的采集速度。
高级显示配置工具
可全面配置的视图和读数
TomoView软件在构建布局时具有很大的灵活性，可对视图显示和读数进行全面配置。每组视图都有自己的内容配置。可以轻松地将这些内容配置转移到其他视图中，然后将它们保存到布局组中，这些布局组仍可通过TomoView管理器进行访问。
自行创建读数
除了提供多种读数选择之外，TomoView软件还提供使用定制读数的灵活性。可轻松将读数导出到Microsoft Excel，使用自定义计算进行处理，然后将其导回到TomoView软件。
轻松修改和管理多个布局
TomoView管理器是最有用的TomoView组件之一，因为它有助于快速方便地访问常用的指令。
该管理系统可用于快速添加、删除或修改组，还可在不同组和不同闸门之间轻松切换。它所提供的界面还可以方便地改变总体增益、A扫描及闸门参数。
可以灵活、全面配置的布局是TomoView软件的基本要素。 这些布局可使您看到以不同形式表现的数据，以便更好地满足您的应用需求。
TomoView软件的标准配置包含多组预先定义的布局。您还可以进一步创建自己的布局。轻松修改、保存和加载布局，以便在检测或分析时快速检索。 为了增加灵活性，可通过上下文菜单自定义各个视图。
灵活的设置优化工具
触发序列器工具
在某些需要提高聚焦配置以获得很高检测速度的应用中，TomoView触发序列器模块可以改变聚焦法则的触发顺序。 这种做法有助于减少在这些条件下容易出现的幻影波。
动态深度聚焦（DDF）
左图为动态深度聚焦（DDF），右图为标准聚焦。
动态深度聚焦（DDF）技术可在接收信号时动态改变声束的形成情况，以获得更高的分辨率，从而可在保持优化检测速度的同时，提高探测缺陷的分辨率。
条件A扫描
启动了条件A扫描，就仅在报警触发时，才会记录A扫描。A扫描仅包含信息重要的区域，从而可在一次检测中扫查更大的区域。
分析
采集数据的高级分析工具
TomoView软件不仅是一个功能强大的设计和采集平台，还包括用于深入理解采集数据的高级分析工具。这使得TomoView软件成为完成分析和报告的理想伙伴。
无论是简单的缺陷定量和报告制作，还是更深入的分析，TomoView软件都可以如愿完成。不仅如此，其灵活、全面的设计还可以进行更多的操作。利用强大的功能和算法，将您的分析提升到一个新的水平，包括：
前所未有的强大功能
TomoView 2.10软件新添了很多功能，是一款可将分析水平提升到新高度的优质工具。
数据文件容量可达2 GB，还可将多个文件的数据融合到一起，更高效地分析更大表面的数据。
高级算法
TomoView 2.10软件提供高级分析算法，可以对采集的数据进行更深入的分析。
强大的噪声分析：量化信噪比，并获取有关检测条件的更多信息
数据文件融合
利用TomoView的数据文件融合功能，可以将多个数据文件合并为一个文件，然后同时进行分析，使分析过程更加高效。TomoView软件可使每个数据文件的存储容量达到2 GB，从而可将更多数据文件合并为一个文件。
TomoView 2.10软件可使每个数据文件的存储容量达到2 GB，从而可在单个文件中融合比以往更多的数据文件。
C扫描融合
C扫描融合功能可在单个C扫描中融合来自不同C扫描的数据，并保留不同C扫描中探测到的最大、最小波幅或位置。
体积融合
使用TomoView体积融合功能可将不同的声束合并到一个组中。这种融合视图可清晰呈现整个被检部件，使缺陷指示分析更加容易。
出现空间重叠时，最大波幅被保留。因此，融合视图会显示所有被探测到的缺陷指示，而不考虑缺陷指示的原始方向。需要注意的是，由于使用的融合分辨率不同，指示信号也会有所不同。
需要注意的是，由于使用的融合分辨率不同，指示信号也会有所不同。
使用矩阵滤波器更好地显示C扫描
可借助矩阵滤波器工具降低C扫描数据的噪声，方法是使用周围的点处理数据点。在分析噪声很高的复合材料工件时，矩阵滤波器特别有用，因为在分析噪声水平较高的数据文件时，可以更清晰地显示数据。
强大的噪声分析
TomoView软件包含信噪比（SNR）功能。可使用信噪比（SNR）分析工具，评价C扫描视图上参考区域中的噪声水平，然后再对噪声以上的缺陷指示表面区域进行计算。
在分析模式和Lite Aero版本中可以使用信噪比（SNR）功能。 SNR功能用于零度检测，通常用于检测航空航天工业部件。可在顶视图（C）、波幅和位置C扫描视图中使用这个功能。
灵活的离线数据优化
使用软件的C扫描编辑器，您可以基于最初获取的数据编辑自定义几何图形。这样，您就可以在分析过程中自定义感兴趣的区域，在检测复杂几何形状时获得更大的灵活性。
简单的通过/失败分析
使用二值化工具可以对数据文件进行简单的通过或失败分析，方法是将采集数据转换为以色彩标注的“好/不好”显示。在检测程序需要对采集数据进行视觉分析的情况下，这个工具特别有用。
在检测程序需要对采集数据进行视觉分析的情况下，这个工具特别有用。
便捷的报告制作工具
在TomoView软件中创建报告非常简单。使用区域工具，可添加缺陷指示。选择您希望使用的缺陷报表模板（可通过添加读数和注释的方式轻松定制），然后点击“添加”。为所有相关缺陷指示重复这个步骤。
根据需要更改报告，如添加公司徽标或某些特定的检测信息（操作员姓名、站点、工件等）。在几秒钟内即可生成完整的HTML报告，包括所有相关的检测设置。
技术规格
特性
* 在2.10R6版本中提供。