QuickScan iX ECA
QuickScan iX ECAデータ収集装置は、材料生産環境の表面探傷専用に設計されています。実証済みのQuickScan iX PAデータ収集装置と同様に、信頼できる24 V I/O工業規格に適合する設計です。装置あたり最大8台のプローブを接続できます。プローブ数や速度に関して要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。
工程内表面探傷向けの強力な渦流アレイソリューション
QuickScan iX ECAデータ収集装置は、材料生産環境の表面探傷専用に設計されています。実証済みのQuickScan iX PAデータ収集装置と同様に、信頼できる24 V I/O工業規格に適合する設計です。装置あたり最大8台のプローブを接続できます。プローブ数や速度に関して要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。
QuickScan iX ECAデータ収集装置
工業要求に耐える設計
QuickScan iX ECAは、工業用探傷システム向けに開発された最新の渦流データ収集装置です。IP55に準拠しており、工業環境に問題なく適応することができます。
自動リフトオフ補正
最大
8
装置あたりの入力数
高速検査ニーズに合わせて拡張可能
装置あたり最大8台のプローブを接続できます。より多くのプローブ、より高速の要件を含む要求の厳しい構成には、複数台の装置を結合可能です。
最大
40kHz
データ収集速度
50kHz~2MHz
周波数範囲
仕様
多重化モードでは最大2つの同時周波数の時間多重化が可能
従来のコネクター用の最大入力数8
装置用の合計入力数8、それぞれのタイムスロット数32、合計タイムスロット数256
保管時:–20 °C~70 °C
デジタル入力数8(プログラム可能)
デジタル出力数8(プログラム可能)、エンコーダー入力数2(インクリメンタル、A相とB相)
観察・検査事例一覧
Tube Inspection Systems
Seamless and welded tube inspection systems use ultrasonic phased array and X-ray fluorescence spectroscopy technologies for comprehensive inspection.
Bar Inspection Systems
Bar inspection systems use advanced technologies, such as ultrasonic phased array, eddy current array, and X-ray fluorescence spectroscopy, to inspect the full volume and surface of round or square bars and pipes.