더욱 빠르고 신뢰할 수 있는 비파괴 검사용 차세대 와전류 어레이 프로브
당사의 차세대 와전류 어레이(ECA) 프로브를 소개합니다. 까다로운 검사 환경에 맞춰 설계된 이 프로브들은 고급 PCB 기술, 내장형 인코더, 새로운 웨지 디자인 및 프로그래밍 가능한 원격 스위치를 통해 표면 및 내부 결함을 신뢰성 있게 검출합니다.
신형 ECA 프로브는 NORTEC 700와 호환되며, 자동 구성, 단일 커넥터 타입, 탈착식 프로브 케이블, 통합 알람 LED 표시, 테플론 테이프를 사용한 마모 방지 부품의 손쉬운 교체 기능을 지원합니다.
주요 혁신 사항은 다음과 같습니다.
- 데이터를 삭제하거나 기기를 일시 정지할 수 있는 프로그래밍 가능한 원격 스위치
- 표면 형상에 적응하는 인체공학적인 새로운 웨지 디자인
- 12단계/mm 해상도를 갖춘 내장형 엔코더
- 프로브 관리를 간소화하는 단일 커넥터 유형
- 뛰어난 신호 균일성을 제공하는 PCB 기반 센서 기술
- 프로브에 내장된 알람 LED
- 탈착식 프로브 케이블
- 테프론 테이프로 마모 방지 장치 손쉽게 교체 가능
- NORTEC 700 결함 탐지기를 사용한 자동 설정
ECA 프로브 모델
SURF-25-008-300k3M-DP-A
부품 번호: Q2700082
이 고해상도 표면 ECA 프로브는 매우 작은 표면 결함을 감지하도록 설계되었습니다.
일반 응용 분야
- 체결부 주변 균열 감지
- 스크라이브라인 검사
- 고해상도 매우 작은 결함 탐지
- 표면 개방 결함 감지
사양
| 사양 | 값 |
| 검사 범위 | 25mm |
| 해상도 | 0.8mm |
| 주파수 범위 | 300kHz~3MHz |
| 센서 수 | 32 |
| 결함 검출 능력 | 360° 균열 |
| 인코더 해상도 | mm당 12단계 |
| 마지막 센서에서 프로브 끝/가장자리까지의 거리 | 끝에서 1.1mm, 측면에서 1.35mm |
SUBS-64-020-2k50k-DP-L
부품 번호: Q2700079
이 콤팩트한 표면 아래 ECA 탐침은 접근이 제한되고 작은 크기가 요구되는 경우에 이상적입니다.
일반 응용 분야
- 알루미늄 겹침 이음매를 포함한 전도성 재료 아래의 부식 감지
- 전도성 물질 아래 균열 감지
- 더블러 에지 검사
사양
| 사양 | 값 |
| 검사 범위 | 64mm |
| 해상도 | 2.0mm |
| 주파수 범위 | 2kHz~50kHz |
| 센서 수 | 32 |
| 결함 검출 능력 | 종방향 및 체적 결함 |
| 인코더 해상도 | mm당 12단계 |
| 마지막 센서에서 프로브 끝까지의 거리 | 5.5mm |
SUBS-128-020-2k50k-DP-L
부품 번호: Q2700080
광범위 표면하 ECA 프로브는 넓은 영역을 신속하게 스캔하도록 설계되었습니다.
일반 응용 분야
- 알루미늄 겹침 이음매를 포함한 전도성 재료 아래의 부식 감지
- 전도성 물질 아래 균열 감지
- 더블러 에지 검사
- 더 빠른 스캔이 필요한 넓은 영역 검사
사양
| 사양 | 값 |
| 검사 범위 | 128mm |
| 해상도 | 2.0mm |
| 주파수 범위 | 2kHz~50kHz |
| 센서 수 | 64 |
| 결함 검출 능력 | 종방향 및 체적 결함 |
| 인코더 해상도 | mm당 12단계 |
| 마지막 센서에서 프로브 끝까지의 거리 | 5.5mm |
검사에 최적의 ECA 프로브를 선택하세요
| 모델 | 최적 용도 | 검사 범위 | 해상도 |
| SURF-25-008-300k3M-DP-A | 고해상도 표면 균열 감지 | 25mm | 0.8mm |
| SUBS-64-020-2k50k-DP-L | 접근이 제한된 표면 아래 검사 | 64mm | 2.0mm |
| SUBS-128-020-2k50k-DP-L | 신속한 대면적 표면 아래 스캐닝 | 128mm | 2.0mm |
신뢰할 수 있는 와전류 어레이 검사 성능
체결 부품 주변의 고해상도 균열 감지, 스크라이브 라인 검사, 전도성 재료 아래의 부식 감지 또는 신속한 표면 아래 스캐닝이 필요하든, 당사의 새로운 와전류 어레이 프로브 제품군은 현대적인 비파괴 검사에 필요한 유연성과 성능을 제공합니다.
통합 인코딩, PCB 센서 기술, 자동 NORTEC 700 구성, 작업자 중심의 인체공학적 설계를 갖춘 이 ECA 프로브들은 검사 일관성을 향상시키고, 설정 시간을 줄이며, 생산성을 높입니다.