용접 스크리닝을 수행할 때 B-스캔을 훑어보는 것보다 더 효율적인 방법이 있는지 궁금하셨다면 Evident 솔루션에 대해 들어보세요. Evident의 OmniScan™ X4 결함 감지기는 시간이 많이 소모되고 많은 관심을 요구하는 이 기법에 혁명을 일으킬 수 있는 혁신적인 병합 B-스캔 뷰를 제공합니다. 확인 도구로 사용되는 이 도구는 평가에 대한 확신을 더하고 전체 B-스캔 스크리닝 프로세스를 더욱 용이하게 합니다.

이 기능을 병합된 B-스캔이라고 부르는 이유는 다음과 같습니다.

1. 이 소프트웨어는 여러분이 익숙한 단면 B 스캔 슬라이스를 적절하게 중첩시킵니다.
2. 그 다음, 해석하기 쉬운 하나의 뷰로 OmniScan X4 디스플레이에 모든 B-스캔을 제시합니다.

병합된 B-스캔의 작동 원리

S-스캔을 투명한 주름 또는 조각이 있는 접이식 부채라고 생각해 보세요. 병합된 B 스캔은 이 부채를 접어서 모든 조각을 살펴보는 것과 같습니다.

표준 PAUT 섹터 스캔에서는 각 초음파 축 위치(징후의 깊이와 상관 없음)에 대해 획득된 데이터가 섹터 스캔의 각 빔과 각 스캔 위치(슬라이스)의 최대 진폭을 사용하여 병합됩니다. 이를 통해 각 빔의 전파 축과 직각으로 잠재적 징후들이 결합됩니다. 병합된 B-스캔은 압축을 거치지 않는 보정되지 않은 뷰이므로 데이터가 손실되지 않습니다.

그러나 병합된 B-스캔 사용 여부를 결정할 때 고려해야 할 다른 요소도 있습니다. 용접부 징후의 음파 경로 분포가 가변적일 때 감지 성능이 가장 좋습니다. 이는 보통 자연적으로 발생합니다. 그리고 첫 번째 구간과 두 번째 구간의 시작 부분에서 가장 유용합니다. 용접부와 PAUT 구성은 저마다 다르므로 특히 섹터 스캔이 용접부의 큰 부분을 대상으로 할 때 유사한 음파 경로에서 용접부 기하 징후가 있을 수 있습니다. 조정하지 않으면 이러한 조건은 병합된 B-스캔을 사용하기에 최적의 조건이 아닙니다. 그러나 좋은 소식은 병합에 사용되는 첫 번째 빔과 마지막 빔을 주의 깊게 선택하면 결함 스크리닝 목적으로 매우 가치 있는 개선된 이미지를 얻을 수 있다는 것입니다.

위상 배열 초음파 테스트(PAUT) B-스캔의 기초

B-스캔에 익숙한 사용자조차도 이 기능을 “측면 뷰”라고 잘못 부르는 경우가 있습니다. 0도 검사(예: 벽 두께 측정 목적)에 대해 이야기할 때만 이렇게 부르는 것이 적절합니다. 그러나 용접 검사 등에 사용되는 앵글 빔 검사 시에는 이렇게 부르는 것이 부적절합니다. 그 이유는 앵글 빔 섹터 스캔의 경우 개별 B-스캔이 각각 표면을 기준으로 다른 각도(또는 표면에 직각인 깊이 축)로 이동하는 다른 빔들을 보여주기 때문입니다.

B-스캔 스크리닝 기법은 보통 용접 검사 응용 분야의 위상 배열(PA) 검사자들이 배우고 사용합니다. 부채꼴 스캔의 경우, B-스캔을 하나씩 훑어 보는 것은 시간 경과에 따라 펼쳐진 S-스캔의 빔 각각이 생성한 평면 이미지를 훑어보는 것과 같습니다. 용접 검사자는 일반적으로 징후의 깊이를 평가하고 가장 깊은 징후를 결정할 때 B-스캔 데이터 뷰를 적용합니다.

그러나 이 기법을 사용하여 결함을 식별하고 평가하려면 다음과 같은 목적을 위해 집중해야 합니다.

• 의심되는 결함을 기하 에코와 구분하기 위해 패턴 인식
• B-스캔 간 비교를 통해 의심되는 결함의 심각도와 깊이 확인

병합된 B-스캔은 강력한 기능을 제공하여 검사자의 수고를 줄이고 용접 검사 및 분석 프로세스를 효율화합니다. 병합된 B-스캔은 표준 B-스캔 스크리닝 기법을 보완하여 평가에 대한 확신을 줍니다.

다음은 이 기능이 제공하는 5가지 주요 장점을 요약한 것입니다.

1. 쉽고 빠른 스크리닝 수행

병합된 B-스캔은 검사자의 시간과 정신적 에너지를 많이 절약해 줍니다. 용접부에서 감지된 모든 징후를 하나의 데이터 뷰에서 볼 수 있으므로 의심되는 결함을 한눈에 파악하고 잘못 해석하거나 놓친 사항이 없는지 확인할 수 있습니다.

하나의 뷰로 모든 데이터가 제시되므로 의심되는 징후를 기하 에코 및 관련 드리프트와 분명하게 구분할 수 있습니다.

또한 MXU 5.13 업데이트에 포함된 새롭게 개선된 레이아웃을 사용하여 병합 B-스캔과 병합 해제 B-스캔을 모두 쉽게 확인할 수 있습니다.

• 더 큰 B-스캔 뷰를 보여주는 B-S-A 단일 그룹 레이아웃
• 토글하지 않아도 새로운 A-B-S 멀티그룹 레이아웃이 여러 B-스캔을 보여줍니다. 그룹을 개별적으로 병합하거나 병합 해제하여 쉽게 비교하고 해석할 수 있습니다.

디스플레이 사이를 토글하지 않아도 A-B-S 다중 레이아웃이 여러 B-스캔(병합 또는 병합 해제)을 보여줍니다. 또한, 각 그룹을 개별적으로 병합하거나 병합 해제하여 쉽게 데이터를 비교하고 해석할 수 있습니다.

2. 관련 각도를 격리하여 더 깨끗한 이미지 획득

분석에 도움이 되는 빔만 주의 깊게 선택하여 병합된 B-스캔 이미지를 더 깨끗하게 만들 수 있습니다. 데이터 소스 매개변수의 첫 번째 빔과 마지막 빔을 조정하면 의심되는 징후가 관련 없는 에코 사이에서 훨씬 더 분명하게 돋보이게 할 수 있습니다.

3. 결함 스크리닝 평가 정확성 확인

OmniScan X4 간편 메뉴를 통해 표준 B-스캔 뷰와 병합된 B-스캔 사이를 전환할 수 있습니다. B-스캔 데이터 디스플레이를 길게 누르면 메뉴가 열립니다. 그 다음 Use Active Beam(활성 빔 사용)과 Activate Merged B-Scan(병합된 B-스캔 활성화)을 선택합니다.

이 메뉴는 획득 후 분석뿐만 아니라 실시간 획득 중에도 사용할 수 있습니다. 사용해 보시면 B-스캔 데이터를 비교하고 신뢰할 수 있는 방식으로 분석을 확인하는 방법인 이 기능의 가치를 바로 확인하실 수 있습니다.

4. 결함의 깊이를 즉시 확인

병합된 B-스캔은 가장 깊은 징후를 보여주는 것을 포함하여 모든 빔을 보여주므로 가장 깊은 결함의 위치를 확인하는 데 도움이 됩니다. 먼 표면에서 시작된 균열의 경우 특히 이러한 개선점을 체감할 수 있습니다.

병합된 B-스캔의 스캔 커서를 올려두면 이러한 결함의 가장 깊은 부분을 찾을 수 있으므로 작업이 더 쉬워졌습니다. 그러고 나서 평소처럼 S-스캔을 사용하여 특성 분석을 완료할 수 있습니다.

5. 과거 및 현재 데이터를 철저하게 분석하고 평가

병합된 B-스캔은 빔 확산이 중요한 영향을 주지 않는 시간 측정(time-of-flight) 관점에서 에코를 “봅니다”. 따라서 병합된 B-스캔에서 쉽게 결함의 가장 깊은 부분을 정확하게 집어내고 그 위로 스캔 커서를 올려둘 수 있습니다.

이미 말씀드렸듯이, 병합된 B-스캔 뷰는 OmniScan X4 장치에서 데이터 획득 중에 그리고 획득 후에 사용할 수 있습니다. 장치에서 직접 확인하거나 OmniPC™ 소프트웨어를 사용하는 컴퓨터를 통해 확인할 수 있습니다. OmniPC 6 소프트웨어는 모든 과거 및 현재 OmniScan 데이터 파일 형식(예: .opd 및 .oud)과 호환되므로 이전에 획득된 데이터에도 병합된 B-스캔을 적용할 수 있습니다. 여기에는 OmniScan MX2 및 SX 결함 감지기로 획득한 데이터 파일도 포함됩니다.

추가적인 장점: 쉽게 학습할 수 있는 B-스캔 스크리닝 기법

B-스캔을 사용하고 해석해 본 경험이 있으면 병합된 B-스캔에 적응하는 데도 문제가 없을 것입니다. 병합된 B-스캔은 가장 깊은 징후를 보여주는 것을 포함하여 모든 빔을 보여주므로 초보자도 훨씬 더 쉽게 B-스캔 스크리닝 기법을 배울 수 있습니다.

또한 MXU 및 OmniPC 소프트웨어에 존재하는 동일한 B-스캔 레이아웃과 도구를 사용하므로 숙련도에 상관 없이 모든 OmniScan 사용자는 쉽게 이 기법으로 분석 툴킷을 강화할 수 있습니다. 더 자세히 알아보고 싶으시면 주저하지 말고 현지 Evident 담당자에게 문의해 주세요. 그리고 OmniScan X4 웹페이지를 확인해 보세요.

블로그 최초 게시일: 2023년 5월 04일, 업데이트 날짜: 2024년 10월 21일