HydroFORM半自动扫查器
HydroFORM半自动扫查器是一种易于部署的双轴编码相控阵解决方案，可快速和可靠地采集到大表面的高分辨率数据。为了方便光栅扫查，扫查器配备了X轴和Y轴编码器、一个独特的水柱系统，以及耦合核查和位置指示器。
半自动HydroFORM™扫查器是一种易于部署的双轴编码相控阵（PA）解决方案，能够在极短时间内采集大面积高分辨率数据，实现快速可靠的壁厚测绘和壁内损伤检测。 标准HydroFORM套装配备了成熟的相控阵线性探头和局部水浸系统，现在您还可以选择双晶阵列探头配置。 两种选项均可实现高达1 mm × 1mm的分辨率。
为了优化光栅扫查效率，HydroFORM系统配备了多个提高效率的功能：
- 集成了X轴和Y轴编码器
- 智能步进按钮
- 步进位置和耦合情况指示器
- 扫查速度核查
- 高效气泡管理（I8线性探头）
- 易于步进的磁轮（REX2 DLA
探头） - 制动系统
这种相控阵解决方案可轻松地对外径为101毫米或更大的曲面进行检测，适用于多种应用中，包括：
- 监控因腐蚀、磨蚀和侵蚀而造成的壁厚减薄情况
- 探测壁内的损伤，如：氢致起泡或制造过程中产生的分层，而且还可将这些异常现象与壁厚减薄情况区别开来
用于检测粗糙不平表面的高性能腐蚀成像功能
实现水浸槽质量的相控阵检测效果，而不必担心水的耦合情况。 HydroFORM扫查器具有独特的低流量水柱设计和贴附在表面的泡棉垫圈，因此无需使用楔块。
HydroFORM水耦合系统的其他创新功能：
- 耦合核查LED指示灯会表明供水量过低的情况
- 可延长使用寿命的垫圈保护框
HydroFORM 聚合物系统： 超越水耦合的腐蚀测绘
HydroFORM 聚合物系统通过将传统的水延迟块替换为专门设计的聚合物延迟块，拓展了 HydroFORM 扫描仪的检测范围。 这一创新选项能够在难以、无法或不适合维持水延迟块的温度条件和检测环境下，实现可靠的腐蚀测绘。
该聚合物系统的建立基于 HydroFORM 扫查器久经考验的性能和易用性，提供两种专门配方，分别针对高温或低温检测进行优化，将 HydroFORM 的工作温度范围扩展至 −20 °C 至 175 °C（−4 °F 至 347 °F）。
虽然标准水楔仍然是粗糙、不平整或高度不规则表面的首选解决方案，但聚合物系统在以下方面具有显著优势：
• 在设备冷却不适宜或无法进行的情况下进行在役检查。
• 低温工艺设备和在冰点以下运行的室外设备。
• 传统水力耦合操作难以或不切实际的检查环境
• 绳索作业和高空检查，取消持续供水可简化部署
创新型聚合物延迟块技术
HydroFORM 聚合物系统采用高性能聚合物延迟块与保护膜的组合，既能提供可靠的超声性能，又能克服许多与聚合物延迟块相关的传统限制。
聚合物延迟块经过精心挑选，以实现最佳的声学性能，而保护膜则确保稳定的耦合，并作为保护屏障，防止聚合物与检测表面直接接触。 这种设计消除了扫描过程中聚合物粘附或磨损表面的风险，从而提升了耐用性和操作的便利性。
对温度高达 175 °C 的高温设备进行可靠的腐蚀测绘
随着温度升高，水基延迟块的使用变得越来越困难。 当表面温度接近 100 °C 时，水会沸腾并产生蒸汽泡，这些蒸汽泡会干扰超声波传输并降低数据质量。
HydroFORM高温聚合物系统用专门配制的耐热聚合物代替水，实现对最高可达175°C表面的可靠腐蚀测绘，并可在每次冷却间隔内连续扫描最长30分钟。
低温检测低至 −20 °C（−4 °F）
水基延迟块在寒冷环境中也会受到限制，因为结冰会阻碍其可靠运行。
为应对这一挑战，Evident采用了一种专用的低温聚合物，具有优化的声学性能，专为低温环境下的检测而设计。 此配置允许在 −20°C（−4°F）至 50°C（122°F）的环境下进行检测。 轻松实现高分辨率
使用REX2 DLA探头的腐蚀成像
在使用HydroFORM扫查器时通过选择REX2双晶线性阵列探头，提高腐蚀成像的多功能性和效率。
- 通过倾斜放置发射器-接收器的晶片阵列，可获得很高的近表面分辨率，从而可查看更接近表面的关键缺陷。
- 针对相位相干成像（PCI）和全聚焦方式（TFM）成像进行了优化，改进了对H2S等腐蚀机制的检测。
- 硬楔块悬挂系统无需外接水泵，从而简化了在难以进入区域进行的检测，如需要借助绳索攀爬到高处进行的检测。
- 与硬质合金系统相比，轮子的稳定性能可使扫查更顺畅。
- 64毫米长的有效区域和更大的覆盖范围（双64晶片或双32晶片）加速了数据采集，允许使用自动扫查器进行高通量扫查，如电动MapROVER扫查器和可远程控制的SteerROVER扫查器。
ScanDeck模块
集成的控制装置和各种状态指示器
ScanDeck模块就像您的扫查器控制面板，在您操作HydroFORM扫查器时，直接处于您的视线之内。使用这种将HydroFORM和OmniScan X4组合在一起的解决方案，您可以充分受益于ScanDeck模块的所有功能。
控制按钮：
- 启动OmniScan X4单元上的数据采集功能
- 在导引和徒手扫查模式之间切换
- 在步进轴和扫查轴之间切换
LED指示灯：
- 步进位置导引
- 耦合不足警告
- 超出最大扫查速度发出警报
- 活动的编码器（X轴或Y轴）
完整的相控阵解决方案
HydroFORM扫查器与OmniScan X4多技术探伤仪
通过将水柱系统与OmniScan X4软件中界面回波上的闸门同步相结合，HydroFORM扫查器可提供一流的信号质量、可靠的剩余壁厚测量结果，在缺陷表征和成像方面大大优于传统超声产品。
配置
HydroFORM技术规格
| HydroFORM（水） | HydroFORM（聚合物） | HydroFORM-HT（聚合物） | DLA腐蚀 | DLA腐蚀 | |
| 相控阵探头 | 7.5L64-I8-P（线性） | 7.5L64-I8-P（线性） | 7.5L64-I8-S（线性） | REX2 （双通道） |
REX2-1DEG （双晶） |
| 延迟块介质 | 水 | 蓝色聚合物 | 黑色聚合物 | Rexolite | Rexolite |
| 延迟块高度 | 14 mm或38 mm | 14mm | 14mm | 7.5 mm | 7.5 mm |
| 屋顶角 | 不适用 | 不适用 | 不适用 | 5° | 1° |
| 最大推荐检测厚度 （钢，单位：毫米） |
50 mm 或 150 mm | 50毫米 | 50毫米 | 30 mm | 95 mm |
| 典型的近表面分辨率（¹⁄₈英寸平底孔） | 1.5 mm | 2 | 2.5 | 1 mm | 1 mm |
| 表面最低温度（°C） | 5 | -20 | -20 | -20 | -20 |
| 最高表面温度（°C） | 90 | 50 | 175 | 50 | 50 |
| 推荐用法 | 粗糙不平的表面 | 减少耦合剂 低温 |
减少耦合剂 高温 |
减少耦合剂 近表面分辨率（标准厚度） |
减少耦合剂 近表面分辨率（厚材料）。 |
| 检测范围 | 外径： 4英寸或更大 ID： 10英寸或更大（使用步进编码器时为16英寸） | ||||