厚度测量和缺陷检测解决方案
用于高级腐蚀检测的脉冲/接收（PR）双阵列探头
我们的脉冲接收（PR）REX1双线阵（DLA）探头支持新型相控阵（PA）检测技术的先进功能，其复杂的布线优化了声束发射能力。
这种PR型DLA探头可使您进行更先进的PA检测，即使在使用不带脉冲发生器/接收器模块的相控阵采集仪器时也是如此。除了标准的PA成像之外，REX1 DLA PR探头还可用于执行高效、高质量的全聚焦方式（TFM）和相位相干成像（PCI）扫查。
优势和特点
- 支持复杂聚焦法则的高级脉冲接收（PR）布线
- 全聚焦方式（TFM）
- 相位相干成像（PCI）*
- 一发一收技术降低了界面回波波幅，可优化表面分辨率
- 优化的声束发射能力
- OmniScan X3探伤仪中的机载聚焦法则文件
- 使用OmniScan X3和OmniScan X3 64探伤仪时可大幅提高检测性能
- 与配备了脉冲发生器/接收器模块的仪器兼容
- 与WeldSight高级检测和分析软件兼容
- 可探测表面以下1毫米的缺陷
- 声束覆盖范围宽达30毫米
- 碳钢材料典型的检测深度范围为1毫米到80毫米
- 快速调整系统，可适用于直径从4英寸到平面材料的检测
- 可更换的延迟块、内置注水装置和耐用的硬质合金防磨板
*PCI仅在OmniScan X3 64探伤仪中提供。
典型应用
DLA REX1 PR探头可助力您完成快速高效的手动、自动或半自动检测，实现高质量成像，获得准确的缺陷测量结果。它是腐蚀监测以及评估点蚀、蠕变损伤和氢致裂纹（HIC）等关键缺陷的理想工具。
双晶阵列一发一技术
与双晶UT探头一样，DLA（双晶线性阵列）探头包含一组发射晶片和一组接收晶片，这两组晶片被分别安装在以一定角度切割的延迟块的两部分上。这种配置生成在被测工件表面以下聚焦的声束，从而可大幅降低表面反射的波幅。这种技术还提高了近表面分辨率，获得点蚀、蠕变损伤和HIC（氢致裂纹）等关键性缺陷的更高的检出率（POD）。
一发一收
脉冲回波
碳钢管道上腐蚀缺陷的B扫描图像
新特性，新潜能
全聚焦方式（TFM）和相位相干成像（PCI）等较新的先进超声技术涉及复杂的发射序列，超出了标准双晶线性探头的发射能力1。 我们的REX1 DLA PR型号探头经过优化，可支持在带TFM功能的OmniScan X3设备和带PCI和TFM的OmniScan X3 64探伤仪中设置复杂聚焦法则的需求。
除了高质量的PA成像之外，REX1 DLA PR探头还能进行高效的TFM和PCI扫描，如这些钢中氢致腐蚀（HIC）的数据示例所示。
全聚焦方式（TFM）
相位相干成像（PCI)
1我们仍可以根据要求提供传统的非PR REX1和ULT1版本的DLA探头。这些传统DLA探头采用奇数/偶数布线方式（1-2、3-4等），而且与不带脉冲发生器/接收器模块或没有集成脉冲发生器/接收器功能的仪器（例如OmniScan MX2）相兼容。 虽然目前OmniScan X3扫查计划的探头库中提供这些探头，但非PR版本不能用于TFM或PCI等高级扫查计划。
为了实现更大的兼容性，OmniScan X3系列仪器预先根据我们DLA探头的规格进行了配置，可使检测设置变得快速而简单。创建TFM或PCI扫查计划时，只需从探头列表中选择您的DLA型号探头，然后直接在仪器上进行聚焦法则配置即可。
请进一步了解DLA探头、OmniScan X3系列仪器、TFM功能和PCI功能。