OmniScan MX 와전류 배열 결함 감지기

ECA/ECT 모듈이 포함된 OmniScan MX 결함 탐상기를 사용하여 전도성 재료의 와전류 배열 테스트를 수행하십시오. 테스트 구성은 브리지 또는 송신-수신 모드에서 작동하는 32개의 센서 코일(외부 멀티플렉서 사용 시 최대 64개)을 지원합니다. 작동 주파수의 범위는 동일한 수집에서 여러 주파수를 사용하는 옵션을 사용할 때 20Hz~6MHz입니다.

OmniScan MX ECA/ECT

개요

OmniScan MX
현장에서 입증된 신뢰할 수 있는 기기

전 세계에서 사용되고 있는 수 천 개의 유닛과 더불어, OmniScan® MX는 거칠고 까다로운 검사 조건을 견딜 수 있도록 설계되어 현장에서 입증되고 신뢰할 수 있는 기기입니다. 작고 가벼운 이 기기의 리튬이온 배터리 2개는 최대 6시간 수동 또는 반자동 검사 시간을 제공합니다.

OmniScan MX의 가독성이 높은 8.4인치(213mm) 실시간 컬러 디스플레이를 사용하여 어떤 조명 조건에서도 결함과 세부 사항을 확인할 수 있습니다. 스크롤 노브와 기능 키를 사용하거나 USB 마우스를 연결하여 검사 분석을 용이하게 하여 기기의 간단하고 직관적인 인터페이스를 탐색합니다.

플랫폼 하나, 두 개의 모듈, 세 가지 기술: 유연성 향상

광범위한 응용 분야의 요구사항을 충족하기 위해, 와전류탐상법(ECT), 와전류 배열(ECA) 및 새로운 접착부 검사(BT) C-스캔 기술을 두 가지 모듈 버전으로 사용할 수 있습니다. 이 두 가지 모듈은 모두 MXE(ECT/ECA) 및 MXB(BT C-스캔) 소프트웨어와 호환되어, 기술 간에 쉽게 전환할 수 있고 학습 곡선이 매우 짧습니다.

OmniScan MX Modules

종래의 ECT

ECA Probe

와전류 배열

접착부 검사 C-스캔

ECT4 모듈
지원되지 않음
ECA4-32모듈
대부분의 Nortec 프로브 지원됨
32개의 온보드 채널과 외부 멀티플렉서 이용 시 64개의 채널을 지원합니다.
특수 어댑터 및 스캐너가 필요합니다.

ECA는 ECT와 마찬가지입같습니다
대규모 탐지 범위, 신속한 검색 및 높은 탐지 가능성

와전류 배열(ECA) 기술은 단일 검사 통과에서 훨씬 더 큰 탐지 범위를 얻기 위해 종래의 여러 브리지 또는 반사(드라이버-픽업) 프로브 코일을 통합합니다. 뿐만 아니라, 각각의 ECA 프로브 모델은 프로브 길이 전체를 따라, 표적 결함 범위의 높은 탐지 가능성을 유지하도록 신중하게 설계되었습니다. OmniScan® MX ECA를 사용하면 빠른 수동 검사 속도로 ECA 프로브를 사용하므로, 색상 표현 및 보관 기능이 있는 강력하고 생산적인 검사를 제공할 수 있습니다.

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단일 코일: 래스터 스캔

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배열 프로브: 1라인 스캔

얇은 코팅을 통한 검사

와전류탐상법(ECT) 기술은 검사 표본(전도성 재료, 철자기성 또는 비철자기성)에 가까운 프로브 센서(코일)의 자기 결합 원리로 작동하여, 검사 표본 내에 와전류를 생성하고 기기의 임피던스 평면에 신호를 표시합니다. 와전류 기술을 사용하면, 프로브에서 금속 간 거리가 상당히 낮은 경우(일반적으로 0.5mm~2.0mm), 얇은 코팅(예: 페인트)을 통해서도 결함을 탐지할 수 있습니다.

와전류 배열 및 ECT 기술은 동일한 기본 원리(및 물리학)를 공유하므로, 넓은 탐지 범위, 신속한 스캔, 높은 탐지 가능성 및 컬러 이미징을 포함하여, ECA의 모든 이점을 제공하면서 페인트 통과 검사도 수행할 수 있습니다.

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와전류 검사를 수행하는 데 사용되는 프로브는 코일을 형성하는 구리 권선으로 만들어졌습니다. 코일 모양은 특정 응용 분야에 더 적합하도록 달라질 수 있습니다.

  1. 코일이 전기 전도성 재료에 가깝게 배치되면 재료에서 와전류가 유도됩니다.
  2. 코일이 전기 전도성 재료에 가깝게 배치되면 재료에서 와전류가 유도됩니다.
  3. 전도성 재료의 결함이 와전류 순환을 방해하면 프로브와의 자기 결합이 변경되며 코일 임피던스 변동을 측정하여 결함 신호를 읽을 수 있습니다.

사양

OmniScan MX
전체 치수 (W x H x D)
321mm x 209mm x 125mm(12.6in. x 8.2in. x 5.0in.)
중량
4.6kg(10.1lb), 모듈과 배터리 1개 포함
디스플레이
21cm(8.4in.) TFT LCD 디스플레이, 800픽셀 x 600픽셀, 1600만 가지 색상
전원 공급 장치
스마트 리튬이온 배터리(최대 2개) 및 DC-입력 전압 15V~18V(최소 50W)
배터리 수명
배터리 2개로 최소 6시간, 정상 작동 조건에서 배터리당 최소 3시간
데이터 저장장치
CompactFlash 카드, 대부분의 표준 USB 저장 장치 또는 고속 이더넷을 사용하는 내장 32MB DiskOnChip
I/O 포트
USB 포트 3개, 비디오 출력 비디오 아웃(SVGA), 이더넷 10/100Mbps, 2축 인코더, 디지털 입력 4개(TTL).
작동 온도 범위
0°C~40°C 32:128 PA의 경우 0°C~35ºC(32ºF~104ºF, 32:128 PA의 경우 32ºF~95ºF)
보관 온도 범위
–20°C~70°C(–4ºF~158ºF) 상대 습도 0 ~ 95% 비응축. 흡기 없음, 튐 방지 설계.
MX 모듈 호환성
OMNI-M-ECT4
종래의 와전류 및 접착부 검사 C-스캔을 지원합니다(어댑터 미포함).
OMNI-M-ECA4-32
와전류 배열, 종래의 와전류 및 접착부 검사 C-스캔을 지원합니다(어댑터 미포함).
ECT/BT 및 ECA 모듈
커넥터
BNC 절대 프로브(ECT), 4채널 범용 피셔 19핀(ECT 및 BT), ECA 프로브용 OmniScan 커넥터
채널 수
1~4개(ECT) 32개(ECA), 외부 멀티플렉서로 최대 64까지 확장 가능 어댑터 포함 1개(BT)
프로브 호환성
ECT 및 ECA 프로브 모두에 대해 절대, 차동, 브리지, 반사(드라이버 픽업)
어댑터를 사용하여 BondMaster 피치 캐치 프로브 선택을 지원합니다(스캐너도 필요).
프로브 인식
ECA 및 BT 프로브에 대한 자동 프로브 인식 및 설정.
주파수
대부분의 ECA 및 ECT 설정에서 일반적으로 2개 또는 사용자 지정 ECT 애플리케이션 또는 접착부 검사 C-스캔에서 최대 8개
작동 주파수
20Hz~6MHz
최대 전압
10Ω에 12Vp-p
게인
ECT 및 ECA: 34dB~74dB. BT: 28dB~68dB. 0dB~30dB의 추가 조절 가능한 소프트웨어 게인.
위상 회전
0°~360°(0.1°씩 증분)
취득(측정)율
1Hz~15kHz, 구성에 따라 가변적.
A/D 해상도
16비트
필터링
FIR 저역 통과, FIR 고역 통과, FIR 대역 통과, FIR 대역 차단(조절 가능한 차단 주파수), 중앙 필터(2포인트에서 200포인트까지 가변적), 평균필터(2포인트에서 200포인트까지 가변적)
채널 처리
실제 자동 혼합, 감도 표준화 및 인코더 보정
인코더
시간 기반, 한 줄 스캔 또는 래스터 스캔(2축)
알람
3개 알람 3개, 각각 파이, 상자, 링/ 원으로 구성 가능. 시각적, TTL 및 소리로 알람 출력.
아날로그 출력
예 - 채널 한 개만.

Eddy Current Array Software

전력 증가, 복잡성 감소
MXE 3.0 소프트웨어

요소 간 전자적 전환 기능이 추가된 것을 제외하고, 와전류 배열(ECA) 기술은 기본적으로 ECT 기술과 동일합니다. 와전류 배열은 작동하고 보정하기가 쉽습니다. 새로운 OmniScan MXE 3.0 ECA 소프트웨어는 종래의 ECT 기기(예: Evident Nortec® 500)에서 쉽게 전환할 수 있도록 재설계되었으며, 훨씬 더 쉽게 접근할 수 있는 방식으로 ECA의 성능을 제공합니다.

단일 채널 ECT

OmniScan ECA

32개 동시 채널

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Nortec 500 기본 메뉴

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OmniScan MXE 3.0 새 기본 메뉴

라이브 임피던스 평면

ECA 보정은 종래의 ECT와 거의 동일한 방식으로 수행됩니다. 리프트오프, 게인 및 영점 조정의 원칙은 유지되므로 보정이 평소보다 더 복잡하거나 시간이 많이 걸리지 않습니다.

종래의 ECT 프로브와 마찬가지로, ECA 프로브에서도 라이브 리프트오프 신호를 생성합니다.

OmniScan 노브를 사용하여 실시간으로 위상각을 조정합니다. 게인, 수직 게인 및 널 포인트(H/V)도 같은 방식으로 조정할 수 있습니다.

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종래의 NDT 방식 대체
페인트 제거는 더 이상 사용되지 않습니다

와전류 배열(ECA)은 전도성 물질의 얇은 코팅을 통해 검사를 수행할 수 있는 고유한 기능을 가지고 있습니다. 이 기능은 페인트 또는 코팅을 제거한 다음 다시 칠해야 할 필요성을 완전히 제거하므로, 침투탐상법, 자기 입자 또는 광자기 이미지화(MOI)와 같은 기존의 방법에 비해 엄청난 이점을 제공합니다. 시간이 지날수록, 이것은 엄청난 비용 절감 효과를 제공하며, 무엇보다도 검사가 화학물질이 없이 수행된다는 것이 가장 중요합니다.

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침투탐상법으로 검사된 부품(가시적인 적색 염료)

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적색 염료 PT(특허권 보호됨)와 동일한 색상 표현을 가진 표준 ECA 프로브를 사용하여 스캔합니다. 민감도를 조절하여 결함을 더 많이 또는 더 적게 나타낼 수 있습니다.

주요 이점:

더 많은 가능성을 제공하는 다양한 익숙한 색상 팔레트 선택

MXE 3.0 ECA 소프트웨어는 종래의 NDT 방법의 형태를 복제하고 ECA 신호의 직관적인 표시를 용이하게 하는 다양한 특허권 보호 색상 팔레트 표현이 특징입니다.

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침투탐상법(형광)

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자기 입자(적색 분말)

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자기 입자(형광)

분석, 보고 및 보관
완료 후 검사 확인 또는 재방문

현장 검사가 완료된 후에도 OmniScan ® MX ECA는 통합 데이터 저장, 분석 및 보고 기능 덕분에 계속 가치를 제공합니다. OmniScan MX ECA를 사용하면 개별 표시를 검토하고 필요에 따라 정정 사항을 적용할 수 있습니다. 새로운 MXE 3.0 ECA 소프트웨어는 새롭게 설계된 직관적인 데이터 커서가 특징이며, 이것은 계측기에서 직접 작동하거나(현장) USB로 연결된 마우스로(사무용) 작동할 수 있습니다.

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새로운 MXE 3.0 선택 커서는 매우 직관적이므로 모든 표시를 빠르게 선택할 수 있습니다.

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기록된 데이터를 쉽게 정정할 수 있습니다. 위의 예는 게인(대비) 조정을 보여줍니다.

즉각적인 보고 및 간편한 보관

OmniScan MX에는 키로 누를 수 있는 보고 기능이 내장된 것이 특징입니다. 고급 사용자는 보고서를 구성하고 사용자 정의할 수도 있습니다. 그러나 공장 출하 시 기본 보고서 형식에 이미 스크린샷과 사용자 정의를 할 필요가 없도록게 하려고 신중하게 선택되고 사전 로드된 데이터 필드가 포함되어 있습니다.

검사 데이터 파일의 보관도 매우 쉽습니다. 언제든지(수집 또는 분석 중에) 키를 한 번 누르면 기기 메모리 카드에 데이터가 즉시 저장됩니다.

마우스 입력으로 빠르고 효율적으로 데이터 분석을 수행할 수 있습니다. CompactFlash 리더의 도움으로 파일을 PC에 보관하십시오.

데이터 해석을 쉽게 하기 위해 인코딩된 스캔
최적화된 1-2-3 보정

OmniScan® MX ECA는 종래의 ECT 임피던스 평면 뷰에 ECA 신호를 표시할 뿐만 아니라 사용자가 인코딩된 ECA 기술의 진정한 힘을 인식하기 시작하는 여러 다른 뷰와 레이아웃도 제공합니다. 이러한 표시는 보정 워크플로의 일부로 만들 수 있으며 사용자가 정의한 허용 기준에 따라, 와전류 탐상법을 잘 보여주고 심지어 계속 진행할지/중지할지(go/no-go) 결정도 할 수도 있게도록 합니다.

이것의 직관적인 인터페이스 설계 덕분에 OmniScan MX ECA는 구성하고 작동하기가 빠르고 쉽습니다. 숫자를 세는 것만큼 간단합니다.

1 라이브 임피던스 평면을 사용하여 보통의 ECT 컨트롤을 실시간으로 조정합니다.

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2 인코더 및 C-스캔 디스플레이를 활성화합니다.

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3 설정을 미세 조정하고 검사를 수행할 준비를 합니다.

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전체 C-스캔 디스플레이에서 게인을 사용한 대비 조정.

연속 인코더 모드

시간 기반 검사의 장점은 기기 상호 작용을 최소화하면서 스캔 용량이 사실상 무제한인 반면, 인코딩된 스캔(C-스캔 이미지)의 이점은 결함 위치, 모양 및 치수와 관련하여 색상으로 구분된 귀중한 이미지와 정보를 생성할 수 있다는 것입니다.

MXE 3.0 ECA 소프트웨어는 인코더 보정 이미징을 가능하게 하는 동시에 시간 기반 검사의 사용자 편의성을 유지하는 새로운 연속 인코더(Continuous Encoder) 모드를 도입합니다. 이 모드에서 검사는 생산성이 뛰어나고, 사용자의 재량으로 표시 사항을 기록합니다.

강력한 컬러 이미징
색상으로 구분된 C-스캔으로 결함 깊이 추정

종래의 와전류 기술과 마찬가지로, 결함 심각도는 대부분의 표면 또는 인접 표면 적용 시 복귀 EC 신호 진폭과 밀접하게 상관됩니다. 진폭 기반 색상 코드를 사용하고 인코딩된 위치 정보로 각 채널의 복귀 신호를 플로팅함으로써, 결과 C-스캔 디스플레이는 매우 시각적이고 직관적입니다. 이러한 스캔은 탈착 가능한 CF 카드에 저장되거나 OmniScan® MX의 보고서에 생성될 수 있습니다.

ECA의 감도와 대비를 보정하려면 알려진 깊이 결함을 포함한 기준 표준이 필요합니다.

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각각의 결함 깊이 범위에 대해 서로 다른 색상을 보여주는 보정된 ECA 스캔의 이미지.

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부식 징후를 나타내는 실제 항공기 스킨. 색상은 결함의 깊이를 나타냅니다.

임계값을 기준으로 결함 승인 또는 거부

OmniScan MX ECA를 사용하면 C-스캔 컬러 디스플레이에 기반한 표시를 승인하거나 거부할 수 있습니다. MXE 3.0 ECA 소프트웨어에는 모든 ECA 애플리케이션에 대한 신호 표시를 최적화하는 공장에서 테스트된 다양한 색상 패턴이 포함되어 있습니다.

뿐만 아니라, 새로운 C-스캔 알람 기능은 임피던스 평면 신호가 알람 영역에 들어갈 때 C-스캔 색상을 즉시 변경하므로, 거부 신호의 게이트를 단순화합니다.

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새 MXE 3.0 ECA 소프트웨어와 함께 다양한 애플리케이션별 색상 팔레트가 미리 로드되어 제공됩니다.
(특허권 보호됨)
알람 기능과 함께, 신호가 거부 영역으로 들어갈 때마다 C-스캔은 색상을 변경합니다.

Eddy Current Software

ECT 모드의 OmniScan MX, 강력한 결함 검출기
ECA와 ECT의 성능 결합

일부 검사 절차에서는 특별히 ECT가 특히 필요할 수 있지만, 시간을 단축하고 문제 영역을 찾는 데 ECA가 쉽게 도움을 줄 수 있습니다. OmniScan® MX ECA를 사용하면 검사를 시작할 때 하나의 기술에만 전념할 필요가 없습니다. 검사 중에 언제든지 메뉴 키를 길게 누르면 ECA와 ECT 모드 간에 즉시 전환할 수 있습니다. 두 프로브 모두 연결된 상태를 유지하고 구성 설정을 활성 상태로 유지할 수 있습니다.

ECA 프로브와 ECT 프로브의 동시 연결은 하드웨어 설정을 중지하고 재구성할 필요 없이 작업에 가장 적합한 도구를 제공합니다.

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ECA 인터페이스(파란색)는 ECT 모드 또는 Nortec 500만큼 사용하기 쉽습니다.

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메뉴 키를 길게 누릅니다…

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ECT 인터페이스(녹색)에는 조정 가능한 영점 위치와 같은 절차 호환성을 위한 몇 가지 기능이 포함되어 있습니다.

고품질 신호, 기존 프로브

OS EC Surface
ECT 모드의 OmniScan MX에는 고품질 신호 디지타이저와 신호 손실 또는 왜곡을 최소화하기 위한 모든 디지털 신호 처리 체인이 있습니다. 이것은 밝고 큰 디스플레이와 결합하여 ECT 모드의 OmniScan MX를 세계에서 가장 정밀한 ECT 결함 검출기 중 하나가 되어, 매번 고품질 신호를 표시합니다.
또한 ECT 모드의 OmniScan MX에서는 새 케이블과 어댑터를 사용하여 대부분의 기존 Nortec® ECT 프로브를 사용할 수 있습니다.

Applications

응력 부식 균열 솔루션

Evident는 표면 파괴 응력 부식 균열의 깊이를 탐지하거나 평가하기 위한 다양한 생산적인 솔루션을 제공합니다. 강력하고 사용하기 간편한 배열 와전류 결함 탐상기인 옴니스캔 MX ECA를 기반으로 합니다.

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Doubler Edge 표면 균열 검사 솔루션

Doubler Edge 표면 균열 검사 솔루션은 표면 아래 감지를 위해 최신 ECA 기술을 사용합니다. C-스캔을 통해 더 높은 감지 확률과 더 나은 재현성을 지닙니다. 이 솔루션은 검사 시간 단축 측면에서 큰 진전입니다.

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ECA 표면 균열 감지

표면 균열 ECA 솔루션은 SBBR-026 고해상도 ECA 프로브의 인체 공학적으로 개선된 버전을 제안합니다. 이 솔루션은 페인트는 물론 얇은 코팅에 대해서도 매우 생산적인 속도로 표면 파괴 균열을 감지합니다. 이는 특히 여러 개의 항공기 고정장치에 대한 빠른 검사를 수행하기에 적합합니다.

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표면 아래 균열 ECA 검사 솔루션

표면 아래 균열 ECA 검사 솔루션은 페인트 제거 없이 항공기의 첫 번째 레이어(표면)을 스캔하여 두 번째 레이어에 존재하는 균열을 감지할 수 있습니다. 이 솔루션은 두 가지 ECA 프로브 버전(상용 및 군용 항공기)으로 제공되며, 두 가지 버전 모두 한 번에 최소 64mm를 커버할 수 있습니다.

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표면 아래 부식 ECA 검사 솔루션

표면 아래 부식 ECA 검사 솔루션은 잠재적인 부식에 대해 넓은 영역을 신속하게 검사합니다. 두 가지 프로브 버전(상용 및 군용 항공기)에서 사용할 수 있는 이 솔루션은 페인트 제거 없이 숨겨진 부식(결함 깊이)의 심각도를 즉시 평가할 수 있습니다.

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탄소강 표면 검사

MagnaFORM™ 와전류 솔루션을 사용하면 페인트 및 거친 표면을 검사할 수 있습니다. 동적 리프트 오프 보정은 표면을 파괴하는 결함에 대한 민감도가 용접부 및 부식 부위의 가장 거친 부분에서 유지되도록 보장합니다.

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