Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments

Les appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments d’Evident fournissent des mesures précises et les résultats les plus fiables. Ils produisent des images de coupe transversale précises et détaillées des structures internes, et ce, à des vitesses d’inspection rapides. Vous trouverez ici des équipements et instruments multiéléments, notamment des appareils de recherche de défauts, des unités d’acquisition évolutives et des logiciels d’inspection par ultrasons multiéléments compatibles avec votre appareil multiélément. Ces outils puissants vous permettent d’effectuer en toute confiance même les inspections les plus exigeantes, offrant une grande précision pour l’acquisition de données, la visualisation et l’analyse des signaux ultrasonores. Nos équipements et solutions logicielles multiéléments sont entièrement intégrés. Ils permettent un étalonnage rapide et affichent des interfaces utilisateurs simples, ce qui vous permet d’effectuer votre configuration et votre inspection en très peu de temps.

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Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments

Products

Série OmniScan X3

Chaque appareil de la série OmniScan™ X3 constitue en lui-même un coffre à outils complet pour l’inspection multiélément. Des capacités TFM innovantes et PA avancées vous aident à identifier les défauts en toute confiance, tandis que des outils logiciels puissants et des flux de travaux simples améliorent votre productivité.

Appareil FOCUS PX

L’unité d’acquisition évolutive FOCUS PX et le logiciel FocusPC sont dotés de la toute dernière technologie par ultrasons multiéléments et conventionnels pour une intégration facile aux systèmes d’inspection automatisés ou semi-automatisés. La capacité du FOCUS PX et de son logiciel à générer et à enregistrer des données brutes C-scan et A-scan en fait le choix idéal pour les applications où le résultat de l’inspection repose sur l’analyse post-inspection des données. Cela inclut notamment les applications des secteurs de l’aérospatiale (stratifié composite), de la production d’énergie (pales d’éolienne), du transport (roues de train), du traitement du métal (pièces forgées), et plus encore.

Offertes en option, les trousses de développement logiciel (SDK) FocusControl, FocusData et OpenView sont compatibles avec l’unité FOCUS PX pour permettre aux clients de développer leur propre logiciel d’application.

Appareil de recherche de défauts OmniScan SX

De conception compacte et légère, l’OmniScan SX effectue des inspections économiques à un seul groupe en plus d’offrir une nouvelle interface utilisateur simplifiée sur écran de 8,4 po. L’appareil est offert en deux modèles distincts : SX PA et SX UT. Le modèle SX PA est une unité multiélément 16:64PR et, tout comme le modèle SX UT, il est équipé d’un canal UT conventionnel pour les inspections TOFD, par réflexion ou par émission-réception séparées.

Foire aux questions sur les appareils de recherchede défauts par ultrasons multiéléments

À quelles fins les systèmes multiéléments sont-ils utilisés ?

Les systèmes multiéléments peuvent être utilisés pour presque tous les types d’inspections traditionnellement effectuées à l’aide d’appareils de recherche de défauts à ultrasons conventionnels. Ils sont utilisés dans de nombreux secteurs, notamment l’aérospatiale, la production d’électricité, la pétrochimie, la fabrication de billettes et de tubes métalliques, la construction et l’entretien de pipelines, la fabrication de charpentes métalliques et la fabrication générale. Les systèmes multiéléments sont souvent utilisés dans le cadre de l’inspection de soudures, de la détection de fissures et de la cartographie de corrosion.

Quels sont les avantages des systèmes multiéléments ?

Par rapport aux systèmes d’inspection par ultrasons conventionnels, qui utilisent des sondes à un ou deux éléments, les systèmes d’inspection par ultrasons multiéléments utilisent de multiples éléments. La configuration multiélément permet à l’utilisateur d’orienter, de focaliser et de balayer le faisceau avec une seule sonde. Ainsi, la cartographie des composants ayant des angles particuliers et des géométries complexes est beaucoup plus facile et précise avec cette configuration qu’avec les équipements à ultrasons conventionnels.

Ressources liées aux appareils multiéléments

Principes de base sur les méthodes FMC et TFM

Apprenez-en plus sur les méthodes FMC et TFM dans cette vidéo : vous en apprendrez les principes de base et verrez en quoi elles diffèrent des méthodes traditionnelles de recherche de défauts par ultrasons multiéléments.

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/LF_Olympus_FMC-TFM_HighRes(2)_480.mp4