위상 배열 프로브

Olympus는 모든 유형의 위상 배열 초음파 검사(PAUT) 를 위한 압전 복합재 기술이 사용된 다양한 위상 배열(PA) 프로브를 제공합니다. 여기 소개된 표준 Olympus PA 프로브는 다음의 세 가지 유형으로 나뉩니다.

각도 빔 프로브
통합형 쐐기 프로브
수침 프로브

사용자 응용 분야의 필요에 따라 다른 프로브 유형도 설계할 수 있습니다. 위상 배열 프로브를 사용한 초음파 검사는 일부 대체 방법과 비교해 효율적이고 신뢰할 수 있고 안전하므로 선호되는 NDT 방법으로 빠르게 자리잡고 있습니다. 선형 배열은 산업 응용 분야에서 가장 일반적으로 사용되는 위상 배열 프로브입니다. 위상 배열 프로브의 가장 중요하고 차별화되는 특징은 활성 프로브 조리개(활성면에서 요소의 총길이)입니다. 용접 확인을 위한 이중 배열 프로브에서부터 부식 확인을 위한 PA 프로브까지, 각 옵션은 빠른 스캔 속도, 선명한 이미지, 정확한 검사 결과를 제공합니다.

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/DMA-PROBE_Subtitle_MASTER(2)_480.mp4

개요

Products

RexoFORM

With its unique Rexolite delay line and small footprint, the RexoFORM wedge is optimized for phased array 0° and angle beam inspection in limited-access locations. It offers an economical corrosion mapping solution, conforming to a wide range of pipe diameters without the need for a continuous water supply.

용접 시리즈 프로브

용접 검사 프로브는 전면 또는 상단의 연장 케이블을 하우징에 결합하여 스캐너 프로브 홀더와의 간섭을 방지합니다.이러한 프로브는 수동 및 자동 용접 검사에 적합합니다.A31 및 A32 용접 시리즈 위상 배열 프로브와 웨지를 통해 용접 검사를 간소화 및 표준화하고 신호 대 잡음비를 개선하였습니다.

수동축 초점(PAF) 쐐기

이 특허받은 초점 쐐기 시리즈는 금속관 둘레 용접 검사에서 수동 방향의 빔 발산을 보정하는 데 도움이 됩니다. 빔 폭이 작을수록 스캔 축에서 짧은 결함의 크기를 조정하여 거부율을 낮추고 이미지를 선명하게 합니다.

용접용 이중 배열 프로브

이중 매트릭스 배열(DMA) 프로브는 송수신 종파(TRL) 음향 빔을 수행할 수 있는 동일한 커넥터에 연결된 두 개의 매트릭스 배열 프로브로 구성됩니다. 피복된 금속관 또는 고감쇠 물질을 검사할 때 특히 유용합니다.

부식용 이중 배열 프로브

새로운 이중 선형 배열™ 프로브는 부식 조사 응용 분야에서 재래식 초음파 이중 요소 탐촉자에 비해 몇 가지 이점을 제공합니다. 이 위상 배열 솔루션은 더 큰 빔 커버리지, 더 빠른 스캔 속도 및 데이터 포인트 밀도를 높인 C-스캔 이미징과 같은 기능을 통해 생산성을 향상시킵니다.

HTHA 프로브

고온 수소 공격(HTHA) 응용 분야에서는, 최적화된 이중 선형 배열™ 및 Total Focusing Method(TFM) 프로브를 높은 게인에서 사용하면 더 넓은 스위핑 각도, 확장된 초점 범위 및 향상된 신호 반응을 나타냅니다.

수동 접촉식 프로브

수동 접촉 검사를 위한 당사의 A24 프로브 시리즈는 다양한 응용 분야에서 작동하기 위해 인체공학적 케이스 설계, 교체 가능한 멤브레인 및 대형 사각형 조리개가 통합되어 있습니다 0.02인치(0.5mm) 두께의 멤브레인 덕분에 결합 확인이 간편하고 거친 표면에서 매끄럽게 미끄러지며 마모에 강합니다.

EdgeFORM

자동차 제조업체는 EdgeForm 위상 배열 솔루션을 사용하여 트렁크, 후드 및 도어 패널의 접합 또는 접합부의 공백을 검사할 수 있습니다.

협소 프로브

협소 프로브는 제한된 지역에 접근할 수 있게 해 줍니다(A00 탐사선의 발자국은 8×8mm).

범용 프로브

범용 프로브는 제한된 영역에 더 쉽게 접근할 수 있도록 로우 프로파일 프로브/쐐기 조합이 가능하게 설계됐습니다. 모든 사각 응용 분야에 적합한 다양한 쐐기를 선택할 수 있습니다. 이 프로브는 6.35mm ~ 38mm 두께의 용접에 대한 수동 또는 자동 검사와 대한 주조, 단조, 금속관, 튜브, 가공 및 구조 구성품의 균열 및 용접 결함 여부를 검사하는 데 사용됩니다.

근벽 프로브

근벽 프로브는 프로브의 양쪽 끝단의 단축된 사각 지대(첫 번째 또는 마지막 요소의 중심과 하우징 가장자리 사이의 1.5 mm)를 제공합니다. 복합 채널 검사에 적합하며, 복합 재료(박리, 분리 및 다공성)의 C 스캔 검사에 사용됩니다.

깊은 용입 프로브

깊은 용입 프로브는 모든 사각 응용 분야에 적합하도록 다양한 쐐기 선택에 맞출 수 있습니다. 이 프로브는 두꺼운 판 및 용접 검사, 단조, 소음 또는 입자상 물질에 대한 검사와 같은 깊은 용입 응용 분야에 사용됩니다.

침지 프로브

침지 프로브는 검사 부품이 부분적으로 또는 완전히 침지될 때 물 쐐기 또는 침수 탱크에서 사용할 수 있도록 설계됐습니다. Rexolite 쐐기를 사용하여 굴절 전단파 검사를 위해 설치할 수 있는 종파 프로브입니다.

굴곡형 배열 프로브

굴곡형 배열 프로브는 부식 방지 스테인리스강 케이스로 만들어졌으며 수중 1m까지 방수가 보장됩니다. 이 프로브의 음향 임피던스는 물과 일치합니다. 조정 가능한 침지 쐐기와 호환되며 탄소 섬유 강화 폴리머(CFRP) 모서리 검사 및 복합재 박리검사에 추가해서도 사용됩니다.

곡선 배열 프로브용 침지 코너 쐐기

곡선 배열 프로브용 침지 코너 쐐기는 특정 반경과 각도에서 사용할 수 있으며, 검사할 다양한 구성 요소에 맞게 반경을 조정할 수 있습니다. 수동 스캔을 수행하고 미니휠 인코더와 호환되도록 설계됐습니다.

통합 쐐기 및 규정 준수 프로브

통합 쐐기 및 규정 준수 프로브는 동일한 하우징에서 프로브와 쐐기를 결합하여 접촉각 빔 검사를 위한 가장 낮은 프로파일의 프로브 및 쐐기 조합을 제공합니다. 프로브와 쐐기 사이에 결합이 필요하지 않기 때문에 프로브와 쐐기 인터페이스 사이에 결합이 항상 좋습니다. 이러한 프로브는 응력 부식 균열과 AWS 및 DGS 규정 준수 응용 분야의 수동 검사와 더불어 40°에서 70°를 동시에 사용하는 수동 용접 검사에도 사용됩니다.

사각 프로브용 쐐기

사각 프로브용 쐐기는 30°에서 70°, SW 또는 LW까지의 각 사각 검사 시 강철에서 0°, 45°, 55° 및 60°의 표준 굴절 각도로 사용할 수 있습니다. 프로브를 쐐기에 단단히 고정시킬 수 있는 스테인리스강 나사 커넥터가 함께 제공됩니다. 검사의 품질을 향상시키기 위해 쐐기 홀더가 Olympus 스캐너와 함께 작동할 수 있는 세정 및 장착 구멍과 내마모성을 높이기 위한 카바이드 핀 등의 옵션을 주문하실 수 있습니다.

Probe Options

Products

위상 배열 커넥터 옵션

위상 배열 초음파 검사(PAUT)는 가장 안전하고 선호되는 비파괴 검사 방법으로 빠르게 자리잡고 있습니다. 이 분야를 선도하는 Olympus는 모든 유형의 장비에 대한 위상 배열 프로브용 표준 및 맞춤형 커넥터 옵션을 폭넓게 제공합니다.