OmniScan SX 결함 감지기
단일 그룹인 경량 옴니스캔 SX는 읽기 쉬운 8.4인치(21.3cm) 터치 스크린을 갖추고 있으며, 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다. 옴니스캔 SX는 SX PA와 SX UT의 두 가지 모델로 제공됩니다. SX PA는 UT 전용 SX UT와 마찬가지로 P/E, P-C 또는 TOFD 검사를 위한 재래식 UT 채널을 장착한 16:64PR 장치입니다.
OmniScan SX 두께 및 결함 검사 솔루션
Overview
Olympus에서 20년 넘는 위상배열 검사 경험을 바탕으로 OmniScan DNA를 공유하는 OmniScan® SX 결함 검출기를 자랑스럽게 소개합니다. 사용성을 높이기 위해 OmniScan SX는 8.4in.(21.3cm(8.4in.) 터치스크린에서 간소화된 소프트웨어 인터페이스를 제공합니다. 단일 그룹 및 비모듈식 장비인 OmniScan SX는 요구 사항이 적은 응용 분야에 대해 사용이 간편하고 비용 효율성이 우수한 솔루션입니다.
OmniScan SX는 SX PA 및 SX UT 2가지 모델이 있습니다. SX PA는 16:64PR 위상배열 유닛이며 이는 UT 전용 SX UT와 같이 펄스 에코, 피치 캐치 또는 TOFD 검사용 일반 UT 채널을 사용합니다. OmniScan MX2와 비교하면 SX는 33% 더 가볍고 50% 더 작아 OmniScan 사상 최고 수준의 휴대성을 자랑합니다.
OmniScan SX의 터치스크린은 풀스크린 모드 옵션을 통해 가시성을 극대화하고, 여러 메뉴 기능을 편리한 터치스크린 작동으로 기본 전환합니다. 직관적 인터페이스를 통해 간단한 메뉴 선택, 줌 인, 게이트 조정, 커서 이동, 문자 및 숫자 입력이 가능합니다. 그 외에도 편리한 셋업 및 교정 마법사, S 및 A 스캔 디스플레이에 대한 빠른 리프레시율, 고속 펄스 반복 주파수(PRF)와 같은 기타 고급 통합 기능을 갖춘 OmniScan SX는 매우 효율적인 검사 툴입니다.
Software Features
새로운 OmniScan 소프트웨어는 용접 및 부식 시장에서 기능성이 더욱 뛰어난 기능성의 향상된 성능을 제공합니다.
지속적으로 개선이 이루어진 결과 인터페이스가 간소화되고 반응시간이 최적화되어 최상의 경험을 제공합니다.
새로운 기능은 아래와 같습니다.
- C-스캔 내보내기
- 새로운 그룹 병합 포함 엔드 뷰
- 인터리브
- 분석 감쇠 게인
- 해석이 용이한 스크롤 레이아웃
- 보다 인터랙티브한 메뉴로 접근성 강화
- 최적화된 메인 메뉴와 마법사
- 온보드 컴파운드 스캔
- 세로 용접부를 위한 곡선형 지오메트리 광선 추적
다중 프로브 구성을 요하는 상황을 위해 스캐너 구성이 소프트웨어 인터페이스에 반영되도록 다중 그룹 레이아웃을 개선했습니다. 각각 다른 스캔의 위치는 용접부 중심까지의 거리로 결정되므로 이해하기가 쉽고, 매력적인 레이아웃을 제공합니다.
Workflow
OmniScan 제품군
디자인
NDT SetupBuilder
NDT SetupBuilder 설계 소프트웨어는 Olympus의 자동 및 반자동 초음파 시험 제품군 중에서도 핵심적인 제품입니다. NDT 감독 담당자는 NDT SetupBuilder를 이용하여 검사 전략을 시뮬레이션할 수 있으므로 빔과 각도의 적당한 수를 판단할 수 있습니다. 이 구성을 OmniScan에 불러오기할 수 있어 구성에 소요되는 시간과 조작 오류를 줄여 줍니다.
고객의 필요...
Olympus 솔루션
지난 수 년간 Olympus는 많은 노력을 기울여 고객의 니즈를 충족할 수 있는 다양하면서 혁신적인 솔루션을 개발해 왔습니다.
수집
OmniScan
OmniScan 결함 탐상기는 수동 및 자동 용도에서 강력한 검사 기능을 제공합니다. 다양한 프로브, 스캐너, 액세서리를 지원하므로 Olympus가 석유화학, 항공우주 등 다양한 산업 시장에서 중요한 역할을 할 수 있습니다.
분석 및 보고
OmniPC
OmniPC 소프트웨어는 PC 기반 OmniScan 데이터 분석을 위한 가장 효율적이며 합리적 가격의 솔루션이며 OmniScan 온보드 소프트웨어에서 제공되는 동일한 분석 및 보고 툴을 사용합니다.
TomoView
TomoView 2.10은 고급 데이터 처리, 분석, 보고 툴이 특징으로 이를 이용하여 검사 데이터를 보다 효과적으로 이용할 수 있습니다.
TomoView의 고급 기능에는 아래와 같은 것이 있습니다.
- 다그룹 데이터 시각화를 위한 용적 병합.
- 통합 데이터 표현을 위한 C-스캔 병합.
- 신호 대 노이즈(SNR) 분석 및 최적화 툴.
- 고급 오프라인 데이터 생성 툴.
NDT SetupBuilder를 이용한 설계
NDT SetupBuilder는 새로운 PC용 소프트웨어로, 검사 셋업을 생성하고 빔 시뮬레이션을 시각화할 수 있습니다.
다양한 기능으로 손쉽고 빠르며 포괄적으로 검사 전략을 준비, 실행하여 OmniScan SX에 바로 불러올오기할 수 있습니다.
- Olympus 부품 데이터베이스에서 웨지 및 프로브를 선택할 수 있습니다.
- 물질 내 빔 궤적을 즉각적으로 모사할 수 있습니다.
- 부품, 프로브, 용접부, 빔을 측면, 끝부분, 윗부분, 3D 등 다양한 방식으로 시각화 및 조절할 수 있습니다.
- 판재 및 원주용접이나 축용접관 등 가장 일반적으로 검사하는 다양한 소재와 부품을 나타낼 수 있습니다.
- 기존 그룹을 복사, 플립하여 빠른 다중 프로브 구성 가능
OmniScan SX를 이용한 셋업
셋업을 효과적으로 생성하는 가장 좋은 방법은 NDT SetupBuilder에서 시뮬레이션하여 직접 연결하거나 SD 카드나 USB 메모리로 OmniScan에 불러오는 것입니다. 그리고 데이터 수집 전에 게이트 및 범위 설정 등 간단한 기초 작업만 계측기에서 하면 됩니다. 또한 아래와 같은 기능 덕분에 OmniScan을 이용하면 정확한 셋업 생성이 매우 간단합니다.
- 자동 프로브 인식.
- 직관적 마법사 기능과 인터랙티브한 도움말 메뉴를 이용하여 설정 생성 단계별로 사용자에게 도움이 됩니다.
- 용접 오버레이 및 레이트레이싱 시뮬레이션.
- 빠른 다중 그룹 구성을 위한 그룹 복사 옵션.
OmniScan SX를 이용한 수집
교정
관련 표준 및 규정을 준수하는 검사를 위해서 교정 마법사가 그룹별 포컬 로가 일반적 단일 채널 오류 검출기에 준한 기능을 수행하도록 할 수 있습니다. 사용자는 속도, 웨지 지연, 민감도, TCG, DAC, AWS, 인코더 교정 등의 교정 작업에서 단계별로 안내를 통해 도움을 받습니다. 이제 TOFD PCS 교정 및 가로 파장 교정 등을 자동으로 수행합니다.
수집
OmniScan SX는 수동, 원라인 또는 래스터 인코딩 스캔에 대한 검사 변수를 쉽게 설정할 수 있습니다. 수집은 실시간으로 여러 화면에 표시되며 데이터를 핫스왑식 SD 카드나 USB 2.0 장치에 저장할 수 있습니다.
- 지능형 레이아웃으로 최대 8개 그룹을 구성할 수 있습니다.
- 풀스크린 모드로 결함을 보다 쉽게 찾아낼 수 있습니다.
- 동기화 및 측정은 여러 게이트를 함께 이용하여 처리할 수 있습니다.
OmniPC를 이용한 데이터 분석
OmniPC는 OmniScan과 인터페이스와 분석 및 보고 기능이 동일하며 PC에서 실행 가능하다는 장점을 갖춘 소프트웨어입니다.
이제 OmniPC를 이용하면 OmniScan 장치는 스캔에만 사용하는 동시에 분석을 PC에서 수행할 수 있습니다. 또한 이 소프트웨어는 대형 화면과 함게 사용하여 데이터 가시성을 높이고 키보드 단축키를 지원하여 빠른 작업이 가능합니다.
OmniScan SX를 이용한 데이터 분석
- 결함 크기에 대한 데이터, 기준, 측정 커서.
- 포괄적 데이터베이스와 사전 정의된 삼각법 목록, 축 결함 통계치, 용적 위치 정보, 코드 기반 합격 기준, 부식 매핑 통계치 등을 이용할 수 있습니다.
- 화면이 연동되어 인터랙티브한 분석이 가능하고 오프라인 게이트 위치조정 시 자동으로 업데이트됩니다.
- 최적화된 사전 구성 레이아웃을 통해 빠르고 간단하게 결함의 길이, 깊이, 높이를 파악할 수 있습니다.
보고
OmniScan SX와 OmniPC 모두 보고서 생성이 가능하며 진폭, 위치, 결함 크기 등 최대 8개 값을 표로 정리하여 제공합니다. 또한 지표별로 추가 값과 의견 등으로 맞춤화할 수 있으며 HTML 문서로 저장할 수 있습니다. 레이트레이싱 툴이 제공되어 용접 프로필에 지표값의 위치를 나타낼 수 있습니다. 관련 검사 변수와 함께 고해상도 이미지를 삽입할 수 있습니다.
Applications
Omniscan SX는 워크플로우 간소화 및 전체 생산성 향상을 목표로 하는 Olympus의 혁신적이고 창의적이며 완전한 시장 솔루션에 새로운 다용도 툴을 제공합니다.
위상배열 용접부 검사
OmniScan PA는 원유 및 가스 산업을 위해 Olympus에서 개발한 수동 및 반자동 위상배열 용접부 검사 솔루션의 핵심입니다. 이러한 시스템은 ASME, API 등 기타 규격 표준을 준수하며 검사에 사용할 수 있고, 고속 검출 기능을 제공하고 값 해석을 용이하게 합니다.
부식 매핑 및 복합재 검사
OmniScan SX가 출시되면서 0도 검사는 어느 때보다 접근성이 높아졌습니다. 부식 또는 복합재 검사에서, Olympus는 이상 또는 벽 손실 검출을 위한 검증된 솔루션을 제공합니다.
TOFD 용접부 검사
TOFD는 용접부 결함의 1차적 검출에 이용하는 편리하며 효율적인 방법입니다. 신속하고 비용 효율적이며, 제조 결함의 문제 영역인 용접 부피에 존재하는 결함의 크기를 파악할 수 있습니다.
구성요소 검사
초음파 기법을 이용함으로써 구성요소 검사는 균열, 벽 손실 및 기타 손실을 검출할 수 있습니다. 앵글 및 선형 0도 빔을 모두 지원하는 OmniScan SX는 이러한 단일 그룹 검사 유형에 매우 비용 효율성이 우수한 솔루션입니다.
Solutions
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/scanners/
산업용 스캐너
검사하는 표면에 따라 프로브를 정확하게 배치하는 능력은 검사 품질에 큰 영향을 미칩니다. Olympus는 검사관의 작업을 지원하고자 다양한 산업용 스캐너와 부속품을 제공합니다. 스캐너는 수동 또는 전동 구동이 가능한 하나 또는 두 개의 인코딩된 축을 포함한 다양한 구성으로 제공됩니다.
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/weld-solutions/
용접 검사 솔루션
Olympus의 다목적 용접 솔루션은 생산적이고 효율적인 검사를 위해 다양한 기술과 스캔 도구를 사용합니다. 위상 배열, TOFD 및 기존 초음파 기술을 단독으로 사용하거나 조합해서 높은 검출 확률로 전체 용접 범위를 달성할 수 있습니다.
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/corrosion-solutions/
부식 검사 솔루션
Olympus는 수동 또는 자동화 검사가 필요한 전형적인 응용 분야인 내부 부식된 금속관 및 저장 탱크, 고온의 표면, 대형 가압식 운반선의 부식 매핑, 응력 부식 균열에 대한 수동 또는 자동화 검사를 위한 첨단 기술을 활용한 광범위한 혁신적인 제품을 보유하고 있습니다.
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/composite-solutions/
복합 검사 솔루션
당사의 복합 검사 솔루션은 강력하고 빠른 휴대용 및 통합 검사 장비를 포함합니다. 여러 유형의 복합재 및 벌집 구조 부품을 검사하는 옵션을 사용할 수 있습니다. 초음파 및 접합 검사 기술은 다양한 유지 보수 또는 제조 산업 요구 사항을 충족하기 위해 응용 분야별 스캐너 및 프로브와 함께 제공됩니다.
Scanners
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/scanners/weld/
용접 검사 스캐너
Olympus는 제조 또는 유지 보수 용접 검사의 요건에 적합한 광범위한 스캐너를 갖추고 있습니다. 당사는 용접 부피 전체를 완전히 커버할 수 있도록 여러 프로브를 고정시킬 수 있는 작은 금속관용부터 평판용에 이르는 솔루션을 보유하고 있습니다 전동식과 수동식 모두 놀라운 다기능성, 신뢰성 및 반복성을 갖추고 있습니다.
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/scanners/corrosion/
부식 검사 스캐너
부식 매핑은 고유한 프로브의 위치 기능을 인코딩하는 최대 2개의 정확한 축이 필요한 까다로운 응용 분야입니다. 스캐너는 금속관 및 평평한 표면에 장착될 수 있으며, 유도 적층 제조에서 사용중인 벽의 두께 감소에 이르기까지 결함에 대한 신속한 감지가 용이합니다.
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/scanners/aerospace/
항공 우주 검사 스캐너
빠른 C-스캔 획득이 필요한 넓은 영역에 대한 검사는 항공우주 산업에서 핵심 기능입니다. 주로 흡착판을 사용하는 적응형 스캐너는 복합 표면에 고정시키기 용이하고 최대 2개의 정밀한 인코딩 축으로 매핑을 수행하기에 적합합니다.
https://main--eds-evident-website--evident-scientific.aem.live/ko/scanners/accessories/
스캐너 부속품
Olympus는 접촉매질 공급 장치에서 펄서 및 프리앰프에 이르기까지 다양한 부속품을 제공하여 데이터 품질을 개선하고 검사의 용이성과 반복성을 향상시켜 줍니다.
Phased Array Probes
용접 시리즈 프로브
용접 검사 프로브는 전면 또는 상단의 연장 케이블을 하우징에 결합하여 스캐너 프로브 홀더와의 간섭을 방지합니다.이러한 프로브는 수동 및 자동 용접 검사에 적합합니다.A31 및 A32 용접 시리즈 위상 배열 프로브와 웨지를 통해 용접 검사를 간소화 및 표준화하고 신호 대 잡음비를 개선하였습니다.
수동축 초점(PAF) 쐐기
이 특허받은 초점 쐐기 시리즈는 금속관 둘레 용접 검사에서 수동 방향의 빔 발산을 보정하는 데 도움이 됩니다. 빔 폭이 작을수록 스캔 축에서 짧은 결함의 크기를 조정하여 거부율을 낮추고 이미지를 선명하게 합니다.
용접용 이중 배열 프로브
이중 매트릭스 배열(DMA) 프로브는 송수신 종파(TRL) 음향 빔을 수행할 수 있는 동일한 커넥터에 연결된 두 개의 매트릭스 배열 프로브로 구성됩니다. 피복된 금속관 또는 고감쇠 물질을 검사할 때 특히 유용합니다.
부식용 이중 배열 프로브
새로운 이중 선형 배열™ 프로브는 부식 조사 응용 분야에서 재래식 초음파 이중 요소 탐촉자에 비해 몇 가지 이점을 제공합니다. 이 위상 배열 솔루션은 더 큰 빔 커버리지, 더 빠른 스캔 속도 및 데이터 포인트 밀도를 높인 C-스캔 이미징과 같은 기능을 통해 생산성을 향상시킵니다.
수동 접촉식 프로브
수동 접촉 검사를 위한 당사의 A24 프로브 시리즈는 다양한 응용 분야에서 작동하기 위해 인체공학적 케이스 설계, 교체 가능한 멤브레인 및 대형 사각형 조리개가 통합되어 있습니다 0.02인치(0.5mm) 두께의 멤브레인 덕분에 결합 확인이 간편하고 거친 표면에서 매끄럽게 미끄러지며 마모에 강합니다.
굴곡형 배열 프로브
굴곡형 배열 프로브는 부식 방지 스테인리스강 케이스로 만들어졌으며 수중 1m까지 방수가 보장됩니다. 이 프로브의 음향 임피던스는 물과 일치합니다. 조정 가능한 침지 쐐기와 호환되며 탄소 섬유 강화 폴리머(CFRP) 모서리 검사 및 복합재 박리검사에 추가해서도 사용됩니다.
곡선 배열 프로브용 침지 코너 쐐기
곡선 배열 프로브용 침지 코너 쐐기는 특정 반경과 각도에서 사용할 수 있으며, 검사할 다양한 구성 요소에 맞게 반경을 조정할 수 있습니다. 수동 스캔을 수행하고 미니휠 인코더와 호환되도록 설계됐습니다.
통합 쐐기 및 규정 준수 프로브
통합 쐐기 및 규정 준수 프로브는 동일한 하우징에서 프로브와 쐐기를 결합하여 접촉각 빔 검사를 위한 가장 낮은 프로파일의 프로브 및 쐐기 조합을 제공합니다. 프로브와 쐐기 사이에 결합이 필요하지 않기 때문에 프로브와 쐐기 인터페이스 사이에 결합이 항상 좋습니다. 이러한 프로브는 응력 부식 균열과 AWS 및 DGS 규정 준수 응용 분야의 수동 검사와 더불어 40°에서 70°를 동시에 사용하는 수동 용접 검사에도 사용됩니다.
사각 프로브용 쐐기
사각 프로브용 쐐기는 30°에서 70°, SW 또는 LW까지의 각 사각 검사 시 강철에서 0°, 45°, 55° 및 60°의 표준 굴절 각도로 사용할 수 있습니다. 프로브를 쐐기에 단단히 고정시킬 수 있는 스테인리스강 나사 커넥터가 함께 제공됩니다. 검사의 품질을 향상시키기 위해 쐐기 홀더가 Olympus 스캐너와 함께 작동할 수 있는 세정 및 장착 구멍과 내마모성을 높이기 위한 카바이드 핀 등의 옵션을 주문하실 수 있습니다.
Specifications
*최상의 결과를 위해 Lexar® 브랜드 메모리 카드가 권장됩니다.
(14~113ºF)
–20~70°C(–4~158ºF, 배터리 제외)
UT 커넥터 2개: LEMO 00
PA 채널
UT 채널
40V, 80V, 115V
95V, 175V, 340V
30~500ns 조절 가능, 해상도 2.5ns
30~1,000ns 조절 가능, 해상도 2.5ns
네거티브 구형파
네거티브 구형파
35Ω(펄스 에코 모드)
30Ω(피치 캐치 모드)
<30Ω
PA 채널
UT 채널
0~80dB, 최대 입력 신호 550mVp-p(풀스크린 높이)
0~120dB, 최대 입력 신호 34.5Vp-p(풀스크린 높이)
60Ω(펄스 에코 모드)
150Ω(피치 캐치 모드)
60Ω(펄스 에코 모드)
50Ω(펄스 수신 모드)
0.5~18MHz(참고: 이전 0.6MHz 하한값은 컷오프 주파수에 엄격한 -3dB 감쇠를 이용함)
0.25~28MHz (–3dB)
PA 채널
UT 채널
최대 100MHz
100MHz
PA 채널
UT 채널
PA: 2, 4, 8, 16
UT: 2, 4, 8, 16, 32, 64
로우패스 필터 3개, 밴드패스 필터 3개, 하이패스 필터 5개
로우패스 필터 3개, 밴드패스 필터 6개, 하이패스 필터 3개(TOFD에서 구성할 시 로우패스 필터 8개)
OmniScan SX는 ASME, AWS, API 및 EN 규격에 명시된 최소한의 계측기 및 소프트웨어 요구 사항을 충족하거나 초과합니다.